[发明专利]准确定位被测要素位置的计算机系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像量测系统及方法，尤其涉及一种准确定位被测要素位置的计算机系 统及方法。

背景技术

影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法，该方法不仅精度高，而且量测 速度快。影像量测主要用于工件(零件或者部件)的尺寸物差和形位误差的测量，对保证产 品质量起着重要的作用。

一般而言，影像量测方法是采用影像量测机台，如VMS(Vision Measuring System)， 首先将工件固定在影像量测机台上，然后移动CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合器件 )镜头，对准工件中的被测要素(待测部分)以确定量测位置，CCD镜头摄取该被测要素的 影像，然后将影像传送给主机，通过主机中的量测程序对该影像进行量测。

但是，由于影像量测机台中的CCD镜头只能摄取到工件的一小部分，如果被测要素在工 件上有很多相似个体，依靠手工操作CCD镜头来定位被测要素，很容易产生量测错误。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种准确定位被测要素位置的计算机系统，其可利用数位摄 像头，将影像量测机台中的CCD镜头准确定位在被测要素上。

还有必要提供一种准确定位被测要素位置的方法，其可利用数位摄像头，将影像量测机 台中的CCD镜头准确定位在被测要素上。

一种准确定位被测要素位置的计算机系统，该计算机系统与影像量测机台相连，所述影 像量测机台的CCD镜头旁边安装有一个数位摄像头，所述测试主机包括：图片获取模块，用 于获取数位摄像头摄取的影像量测机台上待测工件的图片；参数设置模块，用于设置数位摄 像头在三维空间坐标系的Z轴不同位置上的定位参数；参数选取模块，用于根据数位摄像头 在所述Z轴的位置选取与该位置最接近的定位参数；计算模块，用于当用户从待测工件的图 片中选取被测要素的一点后，根据所选取的定位参数、CCD镜头平面与数位摄像头平面之间 的转换公式计算出该点在CCD镜头平面中的坐标；控制模块，用于控制影像量测机台的CCD镜 头移动到该点在CCD镜头平面中的坐标所在的位置，使得CCD镜头定位在待测工件的被测要素 上。

一种准确定位被测要素位置的方法，应用于包括测试主机和影像量测机台的影像量测系 统中，该方法包括如下步骤：提供一个数位摄像头，安装于影像量测机台的CCD镜头旁边； 设置数位摄像头在三维空间坐标系的Z轴不同位置上的定位参数；当测试开始时，获取数位 摄像头摄取的影像量测机台上待测工件的图片；根据数位摄像头在所述Z轴的位置选取与该 位置最接近的定位参数；从待测工件的图片中选取被测要素的一点；根据所选取的定位参数 、CCD镜头平面与数位摄像头平面之间的转换公式计算出该点在CCD镜头平面中的坐标；控制 影像量测机台的CCD镜头移动到该点在CCD镜头平面中的坐标所在的位置，使得CCD镜头定位 在待测工件的被测要素上。

相较于现有技术，所述的准确定位被测要素位置的系统及方法，可以利用数位摄像头， 将影像量测机台中的CCD镜头准确定位在被测要素上，提高了影像量测的准确性。

附图说明

图1是本发明准确定位被测要素位置的计算机系统较佳实施例的系统架构图。

图2是本发明准确定位被测要素位置的方法较佳实施例的流程图。

图3是影像量测机台的示意图。

图4是安装有数位摄像头的机台镜头立体图。

图5是安装有数位摄像头的机台镜头平面图。

具体实施方式

如图1所示，是本发明准确定位被测要素位置的系统较佳实施例的计算机系统架构图。 该计算机系统主要包括显示设备1、测试主机2和输入设备4，该测试主机2与影像量测机台3 相连。所述测试主机2包括存储体20和量测位置定位程序21。所述存储体20可以是测试主机 2中的硬盘等，存储有定位参数22。所述定位参数22是指CCD镜头平面与数位摄像头平面之间 的转换系数。如图3所示，所述影像量测机台3的组成部分包括机台顶盖31、机台镜头32、机 台工作面33、机台主体34和待测工件35。其中，所述机台镜头32的CCD镜头旁边安装有数位 摄像头。如图4所示，所述机台镜头32包括CCD镜头320、数位摄像头321和环状LED灯322。所 述数位摄像头321用于在LED灯322的照射下，摄取整个待测工件35的图片，并将摄取的图片 传送到测试主机2。