[发明专利]铜核层多层封装基板的制作方法有效
申请号: | 200810305415.4 | 申请日: | 2008-11-07 |
公开(公告)号: | CN101436551A | 公开(公告)日: | 2009-05-20 |
发明(设计)人: | 林文强;王家忠;陈振重 | 申请(专利权)人: | 钰桥半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H05K3/46 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 何 为 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 铜核层 多层 封装 制作方法 | ||
1.一种铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:至少包含下列步骤:
(A)提供铜核基板;
(B)分别于该铜核基板的第一面上形成第一阻层,以及于该铜核基板的第二面上形成完全覆盖状的第二阻层,于其中,该第一阻层上形成数个第一开口,并显露其下该铜核基板的第一面;
(C)于数个第一开口中形成数金属层,以形成球侧电性接垫;
(D)移除该第一阻层及该第二阻层;
(E)于该铜核基板的第一面上形成第一介电层及第一金属层;
(F)于该第一金属层及该第一介电层上形成数个第二开口,并显露其下的球侧电性接垫;
(G)于数个第二开口中以及该球侧电性接垫与该第一金属层上形成第二金属层;
(H)分别于该第二金属层上形成第三阻层,以及于该铜核基板的第二面上形成完全覆盖状的第四阻层,于其中,该第三阻层上形成数个第三开口,并显露其下的第二金属层;
(I)移除该第三开口下方的第二金属层及第一金属层,并形成第一线路层;
(J)移除该第三阻层及该第四阻层,至此,完成具有铜核基板支撑并具电性连接的单层增层线路基板;
(L)于该单层增层线路基板上进行线路增层结构制作,于其中,在该第一线路层及该第一介电层上形成第二介电层,并且在该第二介电层上形成数个第五开口,以显露其下的第一线路层,接着于该第二介电层与数个第五开口表面形成第一晶种层,再分别于该第一晶种层上形成第六阻层,以及于该铜核基板的第二面上形成完全覆盖状的第七阻层,并于该第六阻层上形成数个第六开口,以显露其下的第一晶种层,之后于该第六开口中已显露的第一晶种层上形成第三金属层,最后移除该第六阻层、该第七阻层及该第一晶种层,以在该第二介电层上形成第二线路层,至此,完成具有铜核基板支撑并具电性连接的双层增层线路基板,并继续本步骤(L)增加线路增层结构,形成具更多层的封装基板;
(K)于该单层增层线路基板上进行置晶侧线路层制作,于其中,在该第一线路层表面形成第一防焊层,并且在该第一防焊层上形成数个第四开口,以显露该第一线路层作为电性连接垫的部分;接着于该铜核基板第二面上形成第五阻层,并于数个第四开口中形成第一阻障层,最后再移除该第五阻层,至此,完成具有完整图案化的置晶侧线路层与已图案化但仍完全电性短路的球侧线路层;
(M)于该双层增层线路基板上完成含封胶体的封装制程后,移除该铜核基板,并显露出预埋的数金属层,以形成球侧电性接垫。
2.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述铜核基板为不含介电层材料的铜板。
3.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述第一~七阻层为以贴合、印刷或旋转涂布所为的干膜或湿膜的高感旋光性光阻。
4.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述数个第一、三、四及六开口以曝光及显影方式形成。
5.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述第一开口中形成的数金属层、该第二、三金属层及该第一晶种层的形成方式为无电电镀与电镀。
6.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述数金属层为金/镍/铜的金属结构。
7.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述第一~七阻层的移除方法为剥离。
8.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述步骤(E)是以直接压合该第一介电层及该第一金属层于其上。
9.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述步骤(E)采取贴合该第一介电层后,再形成该第一金属层。
10.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述第一、二介电层为环氧树脂绝缘膜、苯环丁烯、双马来亚酰胺三氮杂苯树脂、环氧树脂板、聚酰亚胺或聚四氟乙烯之中选择其一加入玻璃纤维组成。
11.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述数个第二、五开口是先做开铜窗后,再经由镭射钻孔方式形成。
12.如权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于:所述数个第二、五开口是以直接镭射钻孔方式形成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于钰桥半导体股份有限公司,未经钰桥半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810305415.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:熔铅感应体
- 下一篇:一种核苷酸突变位点的检测方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造