[实用新型]面板测试结构无效
| 申请号： | 200820001232.9 | 申请日： | 2008-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN201138366Y | 公开（公告）日： | 2008-10-22 |
| 发明（设计）人： | 郑秋雄;郑至均 | 申请（专利权）人： | 环国科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R1/067;G01M11/00;G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 面板 测试 结构 | ||
1.一种面板测试结构，其特征在于，包括：
一面板，包含多个像素，且任一该些像素具有多个子像素；以及
一薄膜探针，设有多个导电结构，其中任一该导电结构包含多个导电凸块凸 设于该薄膜探针表面；任一该导电结构的该些导电凸块分别与相同颜色的任一该些 子像素形成电性连接，且该些导电凸块利用至少一导电线路连接至一对外接点。
2.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该薄膜探针为不导电的 挠性材质所构成。
3.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该些导电凸块为异方向 性导电胶或镍合金所构成。
4.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该些子像素为三原色子 像素。
5.如权利要求4所述的面板测试结构，其特征在于，该些导电结构为一红色 子像素导电结构、一绿色子像素导电结构及一蓝色子像素导电结构。
6.如权利要求5所述的面板测试结构，其特征在于，该红色子像素导电结构 的该些导电凸块与该面板上的任一该红色子像素形成电性接触；该绿色子像素导电 结构上的该些导电凸块与该面板上的任一该绿色子像素形成电性接触；以及该蓝色 子像素导电结构上的该些导电凸块与该面板上的任一该蓝色子像素形成电性接触。
7.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该面板更含有多个信号 扫瞄线于该面板的一侧边，且任一该些信号扫瞄线电性连接该面板上任一横向排列 的该些像素。
8.如权利要求7所述的面板测试结构，其特征在于，更包含至少一控制线路 设置于该薄膜探针上与至少一该些信号扫瞄线电性连接。
9.如权利要求8所述的面板测试结构，其特征在于，更包含多个导电凸块凸 出该控制线路并与至少一该些信号扫瞄线电性接触。
10.如权利要求1所述的面板测试结构，其特征在于，该面板更含有多个数据 传输线于该面板的另一侧边，且任一该些数据传输线电性连接该面板上任一纵向排 列的该些子像素。
11.如权利要求10所述的面板测试结构，其特征在于，该薄膜探针上的该些 导电凸块与该些数据传输线电性接触。
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