[实用新型]面板测试结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种利用薄膜探针的特性所制成的面板测试结构，特别涉及 一种可测试面板彩度的面板测试结构。

背景技术

不论是何种显示器，于现今信息社会中已是一个不可或缺的配备，其用以呈 现画面与文字信号的输出装置，在显示器中一个影像的输出由许多具不同颜色及明 亮度的像素(pixel)所构成，且每一像素中包括有红(R)、绿(G)及蓝(B)三 个子像素(sub-pixel)，而相邻二子像素之间的最短距离即所谓的间距(pitch)， 当间距越小时，显示器的画面将越为清晰。

每一个像素中的每一子像素分别受一条信号扫描线(common)及一条数据信 号线(segment)连接，且每一信号扫描线并受一信号扫描线驱动电路供应扫描信 号，而每一数据信号线则受一数据信号线驱动电路供应影像数据，并使数据信号线 及信号扫瞄线分别与设置于面板边缘的驱动电路连接，以藉由驱动电路来控制驱动 信号快速且反复的扫瞄过各子像素，进而控制每一子像素的亮与暗，以经由三原色 依比例调和而显示出全彩模式的色彩。

已知在对显示器面板进行点灯测试时，即是针对每一像素中的子像素进行测 试，乃在安装前述的驱动电路以及完成面板接合之后，先以点灯测试机台对此面板 进行测试，以确保产品妥善。然，于高显示度的显示面板其电极终端区的输入电极 排线相当密集，以致于利用传统探针方式来进行点测试时遇到很大的困难，且此种 利用点灯测试机台进行测试的方式使用有所限制，亦无法分别单独测试各原色子像 素。

实用新型内容

本实用新型的一目的是提供一种面板测试结构，其利用不同导电结构上的导 电凸块分别与任一相同原色子像素形成电性接触，且将待侧面板上的相同原色子像 素全都连接至同一测试点，以藉此进行面板像素测试。

本实用新型的另一目的是提供一种面板点灯测试结构，其可针对三原色，红 绿蓝(RGB)，分别单独测试其彩度，应用更为广泛。

本实用新型的再一目的是提供一种面板测试结构，其使用单面的测试薄膜探 针即可进行点灯测试，故易于制造及维修。

本实用新型的又一目的是提供一种可降低成本的面板测试结构。

为达到上述的目的，本实用新型的一实施例提出一种面板测试结构将导电结 构布设于薄膜或软性片上而形成薄膜探针。其用以测试一面板上的多个像素，且每 一像素含有多个子像素；以及一薄膜探针设有多个导电结构。其中导电结构具有多 个导电凸块凸设于薄膜上的导电线表面，且任一导电结构的导电凸块分别与任一相 同颜色子像素形成电性连接。此外，导电凸块利用至少一导电线路连接至一对外接 点，因此可藉由对外接点做面板测试。

以下藉由具体实施例配合所附的附图详加说明，当更容易了解本实用新型的 目的、技术内容、特点及其所达成的功效。

附图说明

图1为依据本实用新型的一实施例的待测面板的示意图。

图2a为依据本实用新型的一实施例的薄膜或软性片上电线的结构示意图。

图2b为图2a的局部侧视示意图。

图3为依据本实用新型的一实施例的进行面板测试的结构俯视图。

图4为依据本实用新型的一实施例的进行面板测试的结构侧视图。

图5为依据本实用新型的又一实施例的进行面板测试的结构俯视图。

主要元件符号说明：

100                面板

110                像素

112、114、116      子像素

200                薄膜探针

210、220、230      导电结构

212、222、232      导电凸块

214、224、234      导电线路

216、226、236      对外接点

240、250           控制线路

C1、C2、C3…       信号扫描线

S11、S12、S13、    数据传输线

S21、S22、S23…

具体实施方式

其详细说明如下，所述较佳实施例仅做一说明非用以限定本实用新型。