[实用新型]探针结构及具有探针结构的测试板无效
申请号: | 200820137183.1 | 申请日: | 2008-10-20 |
公开(公告)号: | CN201281719Y | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 陈文祺 | 申请(专利权)人: | 陈文祺 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许 静 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 结构 具有 测试 | ||
1、一种探针结构,其特征在于,包括:
一本体部及一探头部,该探头部为由该本体部的末端弯折延伸成型,该探头部的接触端面披覆有一辅助保护层。
2、根据权利要求1所述的探针结构,其特征在于:该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸且包覆该探头部的表面。
3、根据权利要求1所述的探针结构,其特征在于:还包括一保护层,该保护层为成型于该探头部的表面,其中该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸,且该辅助保护层的侧端为与该保护层的侧端紧密接合。
4、根据权利要求1所述的探针结构,其特征在于:还包括一保护层,该保护层为成型于该探头部的表面,其中该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸且覆盖于该保护层上。
5、根据权利要求1所述的探针结构,其特征在于:该探针结构为一弹性体,且该辅助保护层为钯金化合物、镉金化合物或铂金化合物。
6、一种具有探针结构的测试板,其特征在于,包括:
一基板;以及
多个设置于该基板上的探针结构,每一探针结构包括:一本体部及一探头部,该探头部为由该本体部的末端弯折延伸成型,该探头部的接触端面披覆有一辅助保护层。
7、根据权利要求6所述的具有探针结构的测试板,其特征在于:该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸且包覆该探头部的表面,且该辅助保护层为钯金化合物、镉金化合物或铂金化合物。
8、根据权利要求6所述的具有探针结构的测试板,其特征在于:该探针结构还包括一保护层,该保护层为成型于该探头部的表面,其中该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸,且该辅助保护层的侧端为与该保护层的侧端紧密接合。
9、根据权利要求6所述的具有探针结构的测试板,其特征在于:该探针结构还包括一保护层,其中该保护层为成型于该探头部的表面,该辅助保护层的两侧端为朝该本体部的方向弯折延伸且覆盖于该保护层上。
10、根据权利要求6所述的具有探针结构的测试板,其特征在于:该基板上还设有一测试电路,每一探针结构的另一端系电性连接于该测试电路,且该基板下方还设有一电子组件,该探针为延伸至该电子组件上方,该探针结构的探头部的接触端面为对应于该电子组件且位于同一平面。
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