[发明专利]用于X射线/计算机断层照相术的纳米颗粒成像剂及其制造方法无效
申请号: | 200880003155.3 | 申请日: | 2008-01-25 |
公开(公告)号: | CN101657218A | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
发明(设计)人: | R·E·科尔伯恩;B·贝尔斯;P·小博尼塔蒂巴斯;A·库尔卡尼;A·托里斯;O·阿克塞尔森;D·德莫尔皮德;P·巴克利 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61K49/04 | 分类号: | A61K49/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张轶东;付 磊 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 射线 计算机 断层 照相术 纳米 颗粒 成像 及其 制造 方法 | ||
1.一种X射线/计算机断层照相术成像剂,其包括:
a)活性纳米颗粒芯,其中该活性纳米颗粒芯包括处于非零价状态的 钽(Ta);以及
b)钝化纳米壳,其被布置在所述纳米颗粒芯的周围,以使在聚集体 中,所述活性纳米颗粒芯和所述钝化纳米壳形成一种芯/壳纳米颗粒,该 纳米颗粒对于在X射线/计算机断层照相术中用作成像剂是可操作的。
2.根据权利要求1所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其中所 述的活性纳米颗粒芯包括氧化钽。
3.根据权利要求1和2所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其 中所述的活性纳米颗粒芯包括Ta2O5。
4.根据权利要求1-3所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其 中所述纳米颗粒的平均直径为约1nm至约20nm。
5.根据权利要求4所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其中所 述纳米颗粒的平均直径为约2至约12。
6.根据权利要求5所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其中所 述纳米颗粒的平均直径为约3至约8。
7.根据权利要求1-6所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其 中所述纳米壳包括一种材料,该材料是水溶性的和生物相容性的。
8.根据权利要求7所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其中所 述的纳米壳包括选自配体、低聚物、聚合物、簇状物、碳水化合物物种、 官能化的硅石及其组合的材料。
9.根据权利要求8所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其中所 述的纳米壳包括选自聚乙二醇、聚乙烯亚胺、聚甲基丙烯酸盐、聚乙烯 基硫酸盐、聚乙烯吡咯烷酮、柠檬酸盐、苹果酸盐、乙醇酸盐、硅烷及 其组合的材料。
10.根据权利要求9所述的X射线/计算机断层照相术成像剂,其 中所述纳米壳包括选自二乙基磷酰乙基三乙氧基硅烷(PHS)和2-[甲氧基 (聚亚乙氧基)丙基]三甲氧基硅烷(PEG硅烷550)的材料。
11.一种X射线/计算机断层照相术成像溶液,其包括权利要求1 -10所述的成像剂的系综,其中所述系综的平均直径不大于约10nm。
12.根据权利要求11所述的X射线/计算机断层照相术成像溶液, 其中所述系综的平均直径不大于约7nm。
13.根据权利要求12所述的X射线/计算机断层照相术成像溶液, 其中所述系综的平均直径不大于约6nm。
14.根据权利要求13所述的X射线/计算机断层照相术成像溶液, 其中所述系综的平均直径不大于约3nm。
15.一种制备X射线/计算机层析成像剂的方法,该方法包括以下步 骤:
a)提供含有钽的第一前体材料;
b)由第一前体材料形成活性芯,该芯包括处于非零价状态的钽;
c)提供第二前体材料;以及
d)由第二前体材料形成钝化壳,其中所述钝化壳被布置在所述芯周 围,以使所述芯和壳形成芯/壳纳米颗粒。
16.根据权利要求15所述的方法,其中所述第一前体材料包括钽 盐。
17.根据权利要求16所述的方法,其中所述第一前体材料包括钽 的醇盐或卤化物。
18.根据权利要求15-17所述的方法,其中所述活性芯包括 Ta2O5。
19.根据权利要求15-18所述的方法,其中所述钝化壳包括衍生 自第二前体材料的水溶性材料。
20.根据权利要求19所述的方法,其中所述第二前体材料包括可 聚合的硅烷,并且所述钝化壳包括选自聚乙二醇、聚乙烯亚胺、聚甲基 丙烯酸盐、聚乙烯基硫酸盐和聚乙烯吡咯烷酮及其组合的聚合物。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司,未经通用电气公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880003155.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:真随机数源及生成真随机数的方法
- 下一篇:连续运行强化生物膜除磷的装置和方法