[发明专利]在晶片结合间隙中形成的芯片冷却通道有效

专利信息
申请号: 200880003718.9 申请日: 2008-01-31
公开(公告)号: CN101601132A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: P·哈特威尔;D·斯图尔特 申请(专利权)人: 惠普开发有限公司
主分类号: H01L23/46 分类号: H01L23/46
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;刘春元
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 晶片 结合 间隙 形成 芯片 冷却 通道
【权利要求书】:

1.一种包括第一晶片(104)和第二晶片(102)的系统(500), 特征在于所述系统还包括:

通道,所述通道被配置为容纳排热材料流并引导排热材料流通过 所述通道,所述通道包括第一壁和与所述第一壁相对的第二壁,所述 第一壁包括所述第一晶片的侧面并且所述第二壁包括所述第二晶片 的侧面,所述通道还包括所述第一壁和所述第二壁之间的距离,其中 所述距离完全分离所述第一晶片和所述第二晶片;以及

与所述通道的所述第一壁和第二壁耦合的图案化结合材料,所述 图案化结合材料形成:

配置用于维持所述距离的间隙设置构造;以及

在所述通道内形成一个或多个沟道的壁状结构构造,所述一个或 多个沟道配置用于所述容纳排热材料流和引导排热材料流通过所述 通道;

其中所述图案化结合材料包括介电材料和晶片结合互连材料中 的至少一种。

2.根据权利要求1的系统,还包括:

进口管道(514),其用于将所述排热材料输入到所述第一晶片 和所述第二晶片之间的所述通道中。

3.根据权利要求1的系统,还包括:

出口管道(502),其用于从所述第一晶片和所述第二晶片之间 的所述通道输出所述排热材料。

4.根据权利要求1的系统,其中,所述排热材料包括流体。

5.根据权利要求1的系统,其中所述图案化结合材料使得晶片 结合工艺能够形成所述通道,所述晶片结合工艺从由共晶结合、焊剂 结合、压缩结合、熔融结合、阳极结合、等离子体辅助结合以及黏接 结合组成的组中加以选择。

6.根据权利要求1的系统,其中:

所述第一晶片是集成电路晶片;并且

所述第二晶片选自由光学晶片、机械晶片、电学晶片和帽晶片组 成的组中。

7.根据权利要求1的系统,其中,所述第一晶片包括突出部(126), 所述突出部包括电结合垫。

8.根据权利要求1的系统,其中,所述图案化结合材料包括所 述第一晶片和所述第二晶片之间的电互连(114)。

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