[发明专利]用于确定写入策略的装置和方法、记录数据的装置和方法无效
申请号: | 200880010087.3 | 申请日: | 2008-01-10 |
公开(公告)号: | CN101647063A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 黄郁渊;李坰根;黄仁吾 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/004 | 分类号: | G11B7/004 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;马翠平 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 写入 策略 装置 方法 记录 数据 | ||
1、一种确定最佳写入策略的方法,所述方法包括:
用多个不同的写入策略记录测试数据;
再现记录的测试数据;
针对所述多个不同的写入策略测量再现的测试数据的抖动值;
根据测量的抖动值确定最佳写入策略。
2、如权利要求1所述的方法,其中,记录测试数据的步骤包括:
基于所述多个不同的写入策略,以多种具有不同尺寸的标记和空白记录测试数据。
3、如权利要求2所述的方法,其中,根据测量的抖动值确定最佳写入策略的步骤包括:
通过使用测量的抖动值针对每个尺寸的标记和空白构造抖动矩阵;
根据抖动矩阵确定最佳写入策略为测量的抖动值的绝对值为最小的写入策略。
4、如权利要求1所述的方法,其中,所述多个不同的写入策略包括:用第一激光聚焦时间长度记录测试数据,以及用第二激光聚焦时间长度记录测试数据。
5、如权利要求3所述的方法,其中,针对每个尺寸的标记和空白构造抖动矩阵的步骤包括:
通过使用测量的抖动值针对每个尺寸的标记和空白构造正的矩阵和负的矩阵。
6、如权利要求5所述的方法,其中,确定最佳写入策略的步骤包括:
根据针对每个尺寸的标记和空白的正的矩阵和负的矩阵,获得基于写入策略的抖动值的函数;
通过基于写入策略的抖动值的函数确定最佳写入策略为抖动值为零的写入策略。
7、如权利要求6所述的方法,其中,通过抖动值的函数确定最佳写入策略为抖动值为零的写入策略的步骤包括:
将基于写入策略的抖动值的函数变换为一阶近似公式;
根据变换的一阶近似公式确定最佳写入策略为抖动值为零的写入策略。
8、如权利要求3所述的方法,其中,构造关于每个尺寸的标记和空白的抖动矩阵的步骤包括:
通过使用测量的抖动值,为每个尺寸的标记和空白构造正的矩阵和负的矩阵,所述正的矩阵和负的矩阵包括与针对每个尺寸的标记和空白的抖动发生的频率有关的信息。
9、如权利要求8所述的方法,其中,确定最佳写入策略的步骤包括:
从针对每个尺寸的标记和空白的正的矩阵和负的矩阵获得基于写入策略的抖动发生的频率的函数;
通过基于写入策略的抖动发生的频率的函数,确定最佳写入策略为抖动发生的频率为零的写入策略。
10、如权利要求9所述的方法,其中,通过抖动发生的频率的函数确定最佳写入策略为抖动发生的频率为零的写入策略的步骤包括:
将基于写入策略的抖动发生的频率的函数变换为一阶近似公式;
根据变换的一阶近似公式确定最佳写入策略为抖动发生的频率为零的写入策略。
11、如权利要求1所述的方法,其中,所述多个不同的写入策略包括用第一幅值的激光功率记录测试数据以及用第二幅值的激光功率记录测试数据。
12、如权利要求1所述的方法,其中,记录测试数据的步骤包括:
在测试区的第一扇区用第一写入策略记录测试数据;
在测试区的第二扇区用第二写入策略记录测试数据。
13、一种用于确定写入策略的装置,所述装置包括:
记录和读取单元,用于用多个不同的写入策略记录测试数据以及再现记录的测试数据;
控制单元,针对所述多个不同的写入策略中的每一个测量再现的测试数据的抖动值,以及根据测量的抖动值确定光盘的最佳写入策略。
14、如权利要求13所述的装置,其中,记录和读取单元基于所述多个不同的写入策略按照多个具有不同尺寸的标记和空白记录测试数据。
15、如权利要求14所述的装置,其中,控制单元包括:
测量单元,针对所述多个不同的写入策略的每一个,测量再现的测试数据的抖动值;
矩阵构造单元,通过使用测量的抖动值,针对每个尺寸的标记和空白构造抖动矩阵;
确定单元,根据抖动矩阵,确定最佳写入策略为测量的抖动值的绝对值为最小的写入策略。
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