[发明专利]红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法

权利要求书

1.一种红外辐射温度计的测定异常检测装置，其特征在于，具有：

模拟透镜，配置在以铸造模具为计测对象的红外辐射温度计的对物透镜周围，且为了使由所述铸造模具释放的污染物易于附着并使其污染程度等同或超过所述对物透镜，而以比所述对物透镜更面向下方的状态，配置在所述铸造模具的上方且所述对物透镜的侧方；

受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述模拟透镜投射光线，并接收由所述模拟透镜反射的光，且对其受光量进行测定；

判断单元，根据由所述受光量测定单元测定的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜被污染的警告；

热电温度计，其以所述铸造模具型腔的内周上存在的圆锥状孔为模拟黑体点，并对模拟黑体点的温度进行测定；

所述判断单元取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据对物透镜的污染、以及所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计的功能部或对物透镜、或者所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。

2.一种红外辐射温度计的测定异常检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

设置如下构件：模拟透镜，配置在以铸造模具为计测对象的红外辐射温度计的对物透镜周围，且为了使由所述铸造模具释放的污染物易于附着并使其污染程度等同或超过所述对物透镜，而以比所述对物透镜更面向下方的状态，配置在所述铸造模具的上方且所述对物透镜的侧方；受光量测定单元；判断单元，其与所述受光量测定单元相连接；热电温度计，其以所述铸造模具型腔的内周上存在的圆锥状孔为模拟黑体点，并对模拟黑体点的温度进行测定；

利用所述受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述模拟透镜投射光线，并接收由所述模拟透镜反射的光，且对其受光量进行测定； 

利用所述判断单元，根据测定出的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜被污染的警告；

利用所述判断单元，取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度、以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据对物透镜的污染、以及所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计的功能部或对物透镜、或者所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。