[发明专利]红外辐射温度计的测定异常检测装置及其测定异常检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于在利用红外辐射温度计进行的温度测定中，在事先防止测定不良的同时，还对测定异常进行检测的技术。

背景技术

一直以来，在以工学及医学为主的各个领域中，为了以非接触的方式对计测对象的表面温度进行测定，使用了热成像法。该热成像法为一种将物体或生物体的表面温度分布用图像来进行表示的方法，通过将用红外辐射温度计检测出的温度作为电特性的变化而进行捕捉，并将其再转换为光的强弱而输出图像，从而能够观察计测对象表面的连续的温度分布。

所述红外辐射温度计为，例如，(1)将从计测对象放射的红外线用透镜集中，并聚焦到检测元件上，(2)从该检测元件获得对应于红外线强弱的电信号，(3)将该电信号放大，并在实施了线性化补正及放射率补正后显示输出。

上述这种热成像法也被应用于，在铸造领域中对铸造模具的型腔的温度进行计测。

作为上述这种铸造工艺的一个示例，通过图1来进行说明。铸造工艺例如通过图1所示的步骤S1至步骤S4来进行实施。首先将铸造模具30合模(步骤S1)，接着向型腔33内注射熔融金属，使制品成型(步骤S2)，然后开模并将制品从所述铸造模具30中取出(步骤S3)，再向型腔33内喷涂脱模剂并用鼓风机使其干燥(步骤S4)，而后再次将铸造模具30合模(步骤S1)，从而进入铸造工艺的下一轮循环。

在上述铸造工艺中，是在铸造模具开模时用红外辐射温度计10进行型腔的温度计测的。但是，由于在铸造模具30开模时，烟、油雾、脱模剂等自型腔33内飞散出来，因此红外辐射温度计10的对物透镜11将会因附着油分及粉尘等而变脏。如果由此而导致在红外辐射温度计10的对物透镜11上堆积污垢，则会产生测定不良，因此需要适时地对该对物透镜11的表面进行清洁。

作为用于对红外辐射温度计的镜头进行防污的技术，在日本实用新型登录第3041996号公报中，公开了如下技术，即，在红外辐射温度计中，为了防止油分及粉尘等附着于对物透镜、并且迅速地进行污染的检查以及清洁作业，在对物透镜的前侧位置上以可自由拆装的方式设置保护用过滤器。

但是，在铸造中对铸造模具的型腔温度进行测定时，红外辐射温度计的对物透镜有时被设置在铸造模具的上方或处于高温的位置等操作者难以目视确认的位置上，在这种情况下，实际上难以判断是否由于对物透镜的污染而产生了测定异常。此外，为了防止由于红外辐射温度计的对物透镜的污染而导致的测定异常，虽然可以常时对所述对物透镜的表面进行清洁，但是生产性并不好。

在本发明中，提出了一种技术，对于应用于热成像法的所述红外辐射温度计，能够检测出所述红外辐射温度计的计测异常，并能够推断计测异常的原因，如对物透镜的污染、以及红外辐射温度计的机构部故障等。

发明内容

在作为本发明第一形态的红外辐射温度计的测定异常检测装置中，具有：模拟透镜，其以比对物透镜更容易污染的位置及姿态被配置在红外辐射温度计的所述对物透镜周围；受光量测定单元，其每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜投射光线，同时接收由所述模拟透镜反射的光，并对该受光量进行测定；判断单元，其根据由所述受光量测定单元测定的受光量计算出投射光的衰减率，并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜污染的警告。

在作为本发明第二形态的红外辐射温度计的测定异常检测方法中，用于检测测定异常的装置具有：模拟透镜，其以比所述对物透镜更容易污染的位置及姿态被配置在红外辐射温度计的对物透镜周围；受光量测定单元；判断单元，其与所述受光量测定单元相连接；所述红外辐射温度计的测定异常检测方法包括：利用所述受光量测定单元，每隔规定时间或在规定的时刻向所述摸拟透镜投射光线，同时接收由所述模拟透镜反射的光，并测定该受光量的步骤；利用所述判断单元，根据测定出的受光量计算出投射光的衰减率， 并根据计算出的衰减率而推断所述模拟透镜的污染程度，再根据所述模拟透镜的污染程度来判断是否需要发出对物透镜污染的警告的步骤。

在作为本发明第三形态的红外辐射温度计的测定异常检测装置中，具有：热电温度计，在红外辐射温度计的计测对象中，对设定在可视为黑体的部位处的模拟黑体点的温度进行测定；判断单元，取得由所述热电温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度以及由所述红外辐射温度计测得的所述模拟黑体点的测定温度，并根据这些测定温度之差来检测测定异常，并且在检测出测定异常时，根据所述热电温度计的测定温度与所述红外辐射温度计的测定温度之间的关系，来判断所述红外辐射温度计与所述热电温度计中的某一个是否发生了故障。