[发明专利]光盘再现光量设定方法及光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于设定对光盘进行再现的再现光量的方法及光盘、使用该方法的光盘装置，本发明将因再现光造成的光盘上的信息的恶化量抑制在预定的范围内。

背景技术

关于再现光盘时的再现光量存在以下所述相反的要求。从再现信号质量的角度考虑，利用稍大一些的再现光量进行再现能够降低噪声，比较有利。另一方面，从光盘对再现光量的承受能力及半导体激光器的寿命的角度考虑，利用稍小一些的再现光量进行再现比较有利。针对这种相反的要求，期望按照能够确保最低限度的再现信号质量、不会产生光盘的记录标记的特性恶化、使光盘使用时间尽可能长的方式来设定再现光量进行再现。

在以往的光盘装置中，在执行反复对同一轨道进行再现的反复再现时，该轨道将受到较大的受热损伤，该部分的记录信息即记录标记恶化，使得再现信号质量恶化。作为其改善对策，在反复再现时检测再现信号振幅，以修正再现信号振幅变化的形式来控制再现光量(例如，参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开2001-34944号公报(第1-6页，图9)

在上述以往的光盘装置中，只检测再现信号振幅的变化，所以不能检测记录标记大幅恶化的状态，有时将恶化成记录标记不能再现的状态。并且，如上述专利文献1记述的那样，为了显示光盘上的静态图像，使用将要再现的用户区域检测再现信号振幅的变化，对于用户而言，有可能恶化成必要的记录标记不能再现的状态。

发明内容

本发明提供一种光盘再现光量设定方法，用于设定为了再现光盘而照射的光量，该方法的特征在于，使用测试用再现光量测试再现光盘上记录了信息的区域，求出该测试再现信号的质量值达到预定值为止的再现时间或再现次数，使用这些数值求出保证预定的再现时间或再现次数的最大再现光量，把所求出的最大光量设定为正式再现用的再现光量。

根据本发明，能够防止光盘恶化到光盘上的记录信息即记录标记不能再现的状态。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1的光盘装置的主要部分的简图。

图2是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作序列的一例的流程图。

图3是基于实测的质量特性图，表示使用图1所示的合适的再现光量进行长时间再现时的再现时间与抖动值的关系。

图4是基于实测的质量特性图，表示使用比图1所示的合适的再现光量充分大的再现光量进行长时间再现时的再现时间与抖动值的关系。

图5是基于实测的质量特性图，表示把图1所示的再现光量设为参数时的再现时间与抖动值的关系。

图6是表示图5所示的再现光量的倒数与抖动值达到允许值时的再现时间的自然对数值的关系的阿仑尼乌斯图。

图7是表示根据测试再现的结果求出在正式再现时使用的再现光量Lg的方法的图。

图8是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作序列的其他示例的流程图。

图9是表示在实施方式2中使用的光盘上的测试记录区域的简图。

图10是表示施加给在实施方式3中使用的光源2的驱动电流波形、与从光源2射出的光束3的发光量的关系的电流-发光量关系图。

图11是表示图10中的光源2的发光量的简图。

图12(a)和(b)是与图10相同的电流-发光量关系图，是表示相对于驱动电流的中心值C的变化的发光量的变化的图。

图13(a)和(b)是与图10相同的电流-发光量关系图，是表示相对于驱动电流的振幅M的变化的发光量的变化的图。

标号说明

1光盘；2光源；3光束；4准直透镜；5棱镜；6物镜；7聚光光斑；聚光透镜；9光检测器；10放大电路部；11信号处理部；12控制运算部；13光源控制部；20可记录式光盘；21用户数据区域；22管理区域；23盘测试区域。

具体实施方式

图1是表示本发明的实施方式1的光盘装置的主要部分的简图，图2是表示使用图1所示的光盘装置进行的再现光量设定用的动作序列的一例的流程图，图3是表示使用合适的再现光量进行长时间再现时，抖动值相对再现时间的变化的图，图4是表示使用比合适的再现光量大很多的再现光量进行长时间再现时，抖动值相对再现时间的变化的图，图5是表示把包括图3和图4在内的再现光量设为参数时，抖动值相对再现时间的变化的图，图6是表示图5所示的再现光量的倒数(1/L)、与抖动值达到设定允许值Js时的再现时间(再现次数)的倒数(1/N)的自然对数值的关系的阿仑尼乌斯图。