[发明专利]催化氢化有效

专利信息
申请号: 200880018321.7 申请日: 2008-03-28
公开(公告)号: CN101687651A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: S·霍尔;S-J·莫赫森尼-阿拉;C·鲍赫 申请(专利权)人: REV可再生能源投资公司
主分类号: C01B33/04 分类号: C01B33/04;C01G17/00;C01B6/00;C01B6/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 邓 毅
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 催化 氢化
【权利要求书】:

1.氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于,在第一步骤中,在 添加H2的情况下将路易斯酸碱对氢化,和在第二步骤中,将单体的、低 聚的或聚合的卤化硅或卤化锗利用包含H-的路易斯酸碱对来氢化,且在 第三步骤中,在分离出卤化氢的情况下将含卤素的路易斯酸碱对再生。

2.根据权利要求1的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于,使 用R3E作为路易斯碱,其中E=N、P或As,且R=烷基、芳基、烷氧基、 芳氧基或卤素;且使用R′3E′作为路易斯酸,其中E′=B、Al或Ga,且R′ =烷基、芳基、卤代烷基、卤代芳基或卤素。

3.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 利用氯或氟来卤化硅或锗。

4.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述路易斯酸碱对的氢化在-80℃和200℃之间的温度下实施。

5.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述路易斯酸碱对的氢化在0.1MPa和10.0MPa之间的压力下实施。

6.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述单体的,低聚的或聚合的卤化硅或卤化锗的氢化利用在-20℃和 200℃之间的温度来实施。

7.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述单体的,低聚的或聚合的卤化硅或卤化锗的氢化利用在0.05MPa和 0.5MPa之间的压力来实施。

8.根据权利要求1的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于,第 二步骤在氢化反应器(4)中进行。

9.根据权利要求8的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于,第 三步骤在再生反应器(12)中进行。

10.根据权利要求8的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 在氢化反应器(4)中作为固体沉淀出来的氢化的硅化合物或氢化的锗 化合物通过在所述反应器底部的排出装置排出。

11.根据权利要求8的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 在氢化反应器(4)中作为气体逸出的氢化的硅化合物或氢化的锗化合 物经由排出装置获得。

12.根据权利要求9的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 在所述再生反应器(12)中产生的卤化氢被热排出并且经由阀门(16) 从过程中除去。

13.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述卤化氢在100℃和300℃之间的温度下进行进一步的热分解。

14.根据权利要求9的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 所述再生的路易斯酸碱对被再次输送到氢化反应器(4)中。

15.根据权利要求1或2的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 在第三步骤中在重新添加H2的条件下将所述含卤素的路易斯酸碱对重新 氢化。

16.根据权利要求14的氢化卤化硅或卤化锗的方法,其特征在于, 在第三步骤中在重新添加H2的条件下将所述含卤素的路易斯酸碱对重新 氢化。  

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