[发明专利]存储卡及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200880020434.0 申请日: 2008-05-26
公开(公告)号: CN101689252A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 山田雄一郎;西川英信;山田博之;武田修一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G06K19/077 分类号: G06K19/077;H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 段承恩;刘瑞东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种存储卡,其特征在于,具备:

电路基板,其至少在上表面具有基板电极并在下表面具有外部电极;

第1半导体芯片,其具有在前述电路基板的前述上表面安装的第1半导体电极;

第3半导体芯片,其具有在前述电路基板的前述上表面上与安装前述第1半导体芯片的区域不同的区域安装的第3半导体电极;

第2半导体芯片,其在上表面具有第2半导体电极;

引线,其对前述第2半导体电极和前述基板电极进行连接;和

壳体,其覆盖包括在前述电路基板的前述上表面设置的前述第1半导体芯片、前述第2半导体芯片、前述第3半导体芯片和前述引线的电路形成区域;

其中,前述第2半导体芯片的下表面与前述第1半导体芯片的前述上表面的至少一部分被相对面固定,并且前述第1半导体芯片、前述第2半导体芯片、前述第3半导体芯片和前述电路基板的至少一部分、以及前述引线被密封树脂覆盖。

2.根据权利要求1所述的存储卡,其特征在于,还具有:

非半导体芯片部件,其被安装在前述电路基板的前述上表面上与安装前述第1半导体芯片和第2半导体芯片的区域不同的区域。

3.根据权利要求1所述的存储卡,其特征在于,具有:

至少固定前述第1半导体芯片的前述上表面和前述第2半导体芯片的前述下表面的固定材料。

4.根据权利要求1所述的存储卡,其特征在于:

前述壳体,由热塑性树脂形成,具有收容前述电路基板的前述电路形成区域的凹部,并通过前述凹部的开口被安装于前述电路基板。

5.根据权利要求4所述的存储卡,其特征在于:

前述凹部具有至少收容前述第1半导体芯片和前述第2半导体芯片的一部分的第1凹部、和至少收容前述非半导体芯片部件和前述引线的第2凹部。

6.根据权利要求1所述的存储卡,其特征在于:

在前述电路基板的一边侧安装有前述非半导体芯片部件和前述第3半导体芯片,通过前述引线与前述第2半导体芯片的前述第2半导体电极相连接的前述基板电极,被分开排列在前述第3半导体芯片与前述第2半导体芯片的相对向区域的两侧。

7.根据权利要求6所述的存储卡,其特征在于:

与分开的前述基板电极相对应,分开设置有前述第2半导体芯片的第2半导体电极。

8.根据权利要求6所述的存储卡,其特征在于:

前述第2半导体芯片的前述下表面的一部分,在与前述电路基板的分开的前述基板电极相对向的边侧,与前述第1半导体芯片不重叠。

9.根据权利要求6所述的存储卡,其特征在于:

前述第2半导体芯片的前述下表面的一部分与前述第3半导体芯片的前述上表面的一部分被相对面固定。

10.根据权利要求1所述的存储卡,其特征在于:

前述第1半导体芯片和前述第2半导体芯片为存储信息的存储芯片,前述第3半导体芯片为对前述第1半导体芯片和前述第2半导体芯片进行控制的控制芯片。

11.一种存储卡的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

在电路基板的上表面安装第1半导体芯片;

在前述电路基板的前述上表面上与安装前述第1半导体芯片的区域不同的区域安装第3半导体芯片;

使第2半导体芯片的下表面与前述第1半导体芯片的前述上表面的至少一部分相对面用固定材料进行固定;

用引线对前述第2半导体芯片的上表面的第2半导体电极与前述电路基板的前述上表面的基板电极进行连接;

用密封树脂对前述第1半导体芯片、前述第2半导体芯片、前述第3半导体芯片和前述电路基板的至少一部分、以及前述引线进行密封;和

用壳体覆盖包括在前述电路基板的前述上表面设置的前述第1半导体芯片、前述第2半导体芯片、前述第3半导体芯片和前述引线的电路形成区域。

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