[发明专利]用于对片上系统的制造进行控制的设计信息的验证有效

专利信息
申请号: 200880102885.9 申请日: 2008-08-08
公开(公告)号: CN101784905A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 扬·斯图伊特;贝尔纳德·W·德勒伊特;鲁埃劳夫·P·德琼;皮埃特·斯特林克;约里斯·H·J·戈伊茨 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 系统 制造 进行 控制 设计 信息 验证
【权利要求书】:

1.一种对用于控制片上系统的制造的设计信息进行验证的系统, 其中,所述片上系统包括多个电路模块(18)、可编程处理器(12)和 耦合在所述处理器(12)与所述多个电路模块(18)之间的通信电路 (16),所述通信电路(16)被配置为支持从所述处理器对所述电路模 块(18)中的寄存器进行程序控制访问,所述多个电路模块(18)中 的第一电路模块和第二电路模块具有直接相互连接(19),以在所述电 路模块(18)中的第一电路模块和第二电路模块之间直接传送信号, 而不通过通信电路(16)进行通信,所述设计信息(64)包括连接数 据,所述连接数据包括所述直接相互连接(19)和由所述直接相互连 接(19)耦合的第一电路模块和第二电路模块(18)的标识,所述片 上系统包括附加寄存器(44、46),所述附加寄存器(44、46)耦合至 所述直接相互连接(19)以捕获和/或控制在所述直接相互连接(19) 处的信号,所述附加寄存器耦合至通信电路(16)以支持对所述附加 寄存器(44、46)的程序控制访问,所述系统包括:

-用于提供针对所述处理器(12)的接口程序的装置,每个接口 程序针对所述电路模块(18)中指定的一个电路模块,针对所述电路 模块(18)中的第一电路模块的接口程序被配置为接受标准化访问调 用以访问所述附加寄存器(44、46);

-用于提供验证计算机程序的装置,每个验证计算机程序针对所 述电路模块(18)中相应的一个,针对所述电路模块(18)中的第二 电路模块的验证程序包括用于使处理器(12)执行以下操作的指令: 访问所述电路模块(18)中的第二电路模块中的寄存器;使用所述连 接数据或从所述连接数据导出的信息,基于所述连接数据中所述电路 模块(18)中的第一电路模块的标识来选择所述电路模块(18)中的 第一电路模块;以及发布对所述电路模块(18)中所选的第一电路模 块的接口程序的标准化访问调用,以观察和/或控制在所述电路模块 (18)中的第二电路模块的验证计算机程序执行期间经由所述直接相 互连接(19)的信号;以及

-用于当在所述验证程序的控制下操作时根据所述设计信息来监 控所述系统的操作的装置。

2.根据权利要求1所述的系统,其中用于监控的装置包括:用于 在所述验证程序的控制下操作时对所述片上系统的操作进行仿真的装 置。

3.根据权利要求2所述的系统,包括:用于在所述验证程序的控 制下根据所述设计信息对所述片上系统的多个版本的操作进行仿真的 装置,每个版本在相应不同抽象等级处实现了所述片上系统的电路模 块。

4.根据权利要求1所述的系统,包括:用于在所述设计信息的控 制下制造所述片上系统的装置,包括在所述连接数据的控制下在所述 片上系统中的所述直接相互连接。

5.根据权利要求1所述的系统,包括:用于在制造的电路中执行 所述验证程序的装置。

6.根据权利要求1所述的系统,包括:用于将可寻址统计寄存器 (52)和统计收集器电路(54)添加至所述电路模块中至少一个电路 模块的设计的装置,所述统计收集器电路(54)耦合至所述电路模块 (18)的核心电路(42)和统计寄存器(52),所述统计收集器电路(54) 被配置为响应于所述电路模块(18)中发生的事件来更新统计寄存器 (52)中的计数值,针对所述电路模块(18)中的所述至少一个电路 模块的验证程序包括对所述统计寄存器(52)进行寻址的读取指令。

7.根据权利要求1所述的系统,包括:用于将可寻址虚拟寄存器 (50)添加至所述电路模块中至少一个电路模块的设计的装置,所述 可寻址虚拟寄存器(50)不耦合至所述电路模块(18)中所述至少一 个电路模块的任何其他部分,用于所述电路模块中的所述至少一个电 路模块的验证程序包括对所述可寻址虚拟寄存器(50)进行寻址的读 取和写入指令。

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