[发明专利]用于对片上系统的制造进行控制的设计信息的验证

说明书

技术领域

本发明涉及包含片上系统的集成电路的设计验证，并且涉及以便 于设计验证的方式获得的集成电路。

背景技术

在典型示例中，“片上系统”是一种集成电路，包括可编程处理器 和具有将由处理器访问的指定功能的多个电路模块。通常，与该集成 电路的环境分离地设计每个电路模块。在系统设计期间，选择电路模 块并将其组合以实现指定系统。本领域技术人员通常将这种电路模块 称为“IP模块”(知识产权模块)。本领域技术人员使用该术语来指代 可以用于实现电路模块的设计信息以及指代物理电路中的实际电路模 块。

片上系统的设计者选择要使用的IP模块及其连接。片上系统的设 计者还必须为可编程处理器提供程序。典型地，使用应用软件和针对 不同IP模块的应用接口软件来对可编程处理器进行编程。应用软件由 片上系统的设计者设计。应用接口软件由IP模块的设计者设计。通常， 使用标准应用编程接口(API)，可以从应用软件调用应用接口软件， 或者应用接口软件调用应用软件。为了进行这种调用，在可编程处理 器可以对片上系统中的每个IP模块进行寻址的地址以及可选地片上 系统中IP模块的实现的其他系统参数方面，应用接口软件需要具有 “软件模型”。

典型地，片上系统的设计过程从在所使用的IP模块的功能、其功 能连接以及应用功能方面的设计规范开始。以连续的阶段对该规范进 行转换，直到该规范产生集成电路中基本电路组件的定义。并行地， 该规范也被转换为软件。所述软件所使用的系统参数必须与从该规范 产生的电路定义相对应。

许多片上系统的极高复杂度和许多不同设计者的参与使得这种系 统的设计非常容易收到差错的影响。这使得必须对设计执行广泛验证。 如这里所使用的，验证是在电路的物理制造阶段之前的设计阶段，目 的在于检测设计差错，这些设计差错如果未被检测到，则将出现在所 有制造出的产品中。在当今的设计中，集成电路实现中超过三分之二 的工作用于验证。期望减少这种工作。

一种验证涉及询问由电路的定义产生的系统参数是否与软件所使 用的参数相对应。这种验证潜在地解决了电路和软件设计过程之间的 差异以及这些过程中的差错。期望自动执行该过程。

在制造之后，已知通过对单独的IP模块执行测试并通过对IP模 块之间的连接执行测试，来测试所制造的包含片上系统的集成电路。 对单独IP模块的测试通常由IP模块的设计者来定义。这种测试可以 包括结构测试，如扫描测试。这种测试可以包括功能测试，其中经由 系统总线或特殊的测试总线将测试数据提供给IP模块，并观察IP模 块的响应。

对IP模块之间的连接的测试可以包括使用边界扫描测试。US  20040019840描述了对逻辑模块之间连接的测试，其中，信号产生部 分向逻辑模块的输出提供测试信号。在连接的另一侧，将来自另一逻 辑模块的输入的信号提供给验证电路。验证电路将测试信号与在该另 一逻辑模块的输入处的信号进行比较。

应注意，提供这种电路是为了对制造的集成电路进行测试，而不 是为了在制造之前对于集成电路的设计进行验证。通常在设计完成之 后，以使测试电路对所设计的电路透明的方式来添加所需测试电路。 例如，边界扫描电路典型地包括在正常使用期间透明的输入和输出管 脚处的触发器。因此，简单地由于在设计中不存在已知的测试电路， 所以已知的测试电路不能在设计验证期间使用。即使在将测试电路添 加至设计之后，由于传统测试电路在功能上是透明的，所以传统测试 电路仍无法用于验证。

发明内容

本发明的目的之一是提供对片上系统的软件模型与用于实现片上 系统的电路之间的对应关系的自动验证。