[发明专利]X线CT装置及X线CT方法有效
申请号: | 200880103110.3 | 申请日: | 2008-08-07 |
公开(公告)号: | CN102215754A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 神野郁夫 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人京都大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;郑建晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ct 装置 方法 | ||
1.一种X线CT装置,其特征在于包括:
X线照射部,对被检测体照射X线;
X线测量部,隔着所述被检测体与所述X线照射部相对置,测量透过所述被检测体的透过X线中的与所述被检测体内部的检查对象物相应的指定能量范围内的所述透过X线的数目;
厚度运算部,根据由所述X线测量部测量到的所述透过X线的数目计算所述检查对象物的厚度;以及
图像重组部,根据由所述厚度运算部计算出的所述检查对象物的厚度重组CT图像,其中,
所述检查对象物,为X线造影剂,
所述指定能量范围,被设定为在所述X线造影剂的K吸收端的上下。
2.根据权利要求1所述的X线CT装置,其特征在于:所述厚度运算部,根据比所述检查对象物的K吸收端小的指定能量范围内的透过X线的数目、与比所述检查对象物的K吸收端大的指定能量范围内的透过X线的数目之比,计算所述检查对象物的厚度。
3.根据权利要求1或2所述的X线CT装置,其特征在于,所述X线测量部包括:
检测介质,基于由透过所述被检测体的透过X线所赋予的能量而产生电荷;和
多个电极,被设置在所述检测介质的距所述透过X线的入射端的距离彼此不同的位置上。
4.根据权利要求1或2所述的X线CT装置,其特征在于:所述X线测量部包括在透过所述被检测体的透过X线的前进方向上排列的多个检测介质,各所述检测介质基于由所述透过X线所赋予的能量分别产生电荷并构成所述透过X线的吸收体,并且,所述透过X线到达各所述检测介质为止所透过的吸收体的厚度不同。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的X线CT装置,其特征在于:所述X线造影剂选自碘造影剂、钡造影剂及金造影剂中的其中之一。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的X线CT装置,其特征在于:所述X线照射部将X线透过滤光片后的滤光X线照射至被检测体。
7.一种X线CT方法,其特征在于包括:
X线照射步骤,对被检测体照射X线;
X线测量步骤,测量透过所述被检测体的透过X线中的与所述被检测体内部的检查对象物相应的指定能量范围内的所述透过X线的数目;
厚度运算步骤,根据在所述X线测量部测量的所述透过X线的数目计算所述检查对象物的厚度;以及
图像重组步骤,根据在所述厚度运算步骤中计算出的所述检查对象物的厚度重组CT图像,其中,
所述检查对象物,为X线造影剂,
所述指定能量范围,被设定为在所述X线造影剂的K吸收端的上下。
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