[发明专利]X线CT装置及X线CT方法有效
申请号: | 200880103110.3 | 申请日: | 2008-08-07 |
公开(公告)号: | CN102215754A | 公开(公告)日: | 2011-10-12 |
发明(设计)人: | 神野郁夫 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人京都大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;郑建晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ct 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种X线CT装置及X线CT方法,尤其是涉及一种根据透过X线的能量信息生成CT图像的X线CT装置及X线CT方法。
背景技术
基于X线透过摄影的图像诊断或基于X线CT(Computed Tomography,计算机断层扫描)摄影的图像诊断能够发现被检测体内部的例如癌症或溃疡等病变,因此作为有效的诊断方法而被加以利用。在这些图像诊断中,测量透过被检测体的X线的线量(或由被检测体吸收的X线的线量),并通过用图像表示出该线量的增减而生成X线图像。由于构成生物体的元素为例如氢、氮、氧及钙等相对较轻的元素,所以X线的吸收系数较小。因此,为了在将生物体作为被检测体的情况下生成清晰的X线图像,需要增大照射至被检测体的X线的线量,从而被检测体的被辐射(exposure)会成为问题。
发明人在日本专利公开公报特开2004-223158号(以下称作“专利文献1”)(D1)中提出了一种降低被检测体的被辐射量的X线摄像方法,并且在特开2007-071602号(以下称作“专利文献2”)(D2)及特开2004-228482号(以下称作“专利文献3”)(D3)中提出了适用于上述提出的X线摄像方法的放射线检测器。
专利文献1(D1)中所公开的X线摄像方法是通过对被检测体照射X线,利用透过被检测体的透过X线检查被检测体内部的X线摄像方法,其具有如下过程:利用所述透过X线的能量信息中的与所述被检测体内部的检查对象物相应的指定能量范围(energy range)的信息来评价所述检查对象物。由于在该X线摄像方法中利用的是指定能量范围内的透过X线的能量信息,所以能够减少照射至被检测体的X线的线量,从而能够降低被检测体的被辐射量。
另外,专利文献2(D2)中所公开的放射线检测器中,在透过X线入射的方向上排列着多个检测介质(detecting medium),在此,如果沿着所述透过X线的入射方向对各所述检测介质标注编号1、2、3、……,各所述检测介质1、2、3、……基于射入的透过X线所赋予的能量分别产生电荷,而每个所述检测介质1、2、3、……也均构成所述透过X线的吸收体,并且,所述透过X线到达各所述检测介质1、2、3、……为止所穿过的所述吸收体的厚度不同,从而吸收射入的透过X线的所述检测介质1、2、3、……的编号会因所述透过X线的能量而不同。即,低能量的X线或伽马射线(gammarays)容易被处于所述透过X线入射的一侧的所述检测介质1及检测介质2等所吸收,而高能量的X线或伽马射线会一直到达较大编号的所述检测介质(远离入射端的位置部分),被该处的检测介质所吸收。基于这种现象,通过测量从各个所述检测介质1、2、3、……输出的电流,能够同时进行高计数率的放射线的检测及能量信息的收集。
另外,专利文献3(D3)中所公开的半导体放射线检测器是使用以化合物半导体的InSb(锑化铟)为基材(base material)的单晶的放射线检测器,且使用没有人工掺杂杂质的高纯度InSb单晶,制作出使该高纯度InSb单晶具有二极管特性的半导体元件,并以指定的温度工作。该半导体放射线检测器能够以高能量分辨率(resolution)检测放射线。
然而,为了在将生物体作为被检测体时生成清晰的X线图像,有时要将X线的吸收系数更大的例如碘或钡等造影剂投入生物体。在此情况下,如果因生物体较大而导致X线的透过长度变长,则不能无视生物体对X线的吸收,为此,造影剂的效果会减小。而且,如果要增加所述X线的线量,一般而言是通过增大施加至X线管的电压(X线管电压)来实现的,从而照射至生物体的X线的高能量成分增多。因此,由造影剂吸收的X线会减少。
而且,所述专利文献1(D1)中虽然记载了可将专利文献1(D1)中所公开的X线摄像方法应用于CT中([0078]段落)的内容,但并未公开其具体的结构,并且作为其作用效果,仅可预测X线的被辐射量的降低。
发明内容
本发明鉴于上述的情况,其目的在于提供一种能够不依赖于被检测体的大小或X线管电压(X线的能量分布)而稳定地生成X线CT图像的X线CT装置及X线CT方法。
本发明所涉及的X线CT装置及X线CT方法,根据被设定为在X线造影剂的K吸收端(K-absorption ends)的上下的指定能量范围内的透过X线的数目计算检查对象物的厚度,并根据该计算出的检查对象物的厚度重组CT图像。因此,这种X线CT装置及X线CT方法能够不依赖于被检测体的大小或X线管电压(X线的能量分布)而稳定地生成X线CT图像。
附图说明
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