[发明专利]使用扇出/扇入矩阵的错误捕获RAM支持

说明书

背景技术

自动化测试设备利用它的通道来向被测设备(DUT)驱动信号或者从其接收信号。每个被测设备通常由地址PIN、控制PIN、和数据PIN组成。在过去，自动化测试设备已使用了专门的PIN电子通道用于数据PIN。结果，在通道和被测设备上的数据PIN之间存在一对一的关系。换言之，用于数据线的PIN电子通道不是由多个被测设备共享。结果，由于用于每个被测设备的数据必须被串行读取，测试(例如，晶片上的)多个设备所需的时间比较长。

尽管已经尝试利用相同的PIN电子通道来从多个被测设备读取数据，但它们要求从这些被测设备串行地读取数据。因此，必须从第一被测设备执行第一数据读取，接着是第二被测设备上的数据读取，接着是从第三被测设备的第三数据读取，等等。因此，以该串行方式从多个设备执行数据读取的时间将测试时间增加了被测设备的数量的因数。例如，利用相同的测试通道从四个被测设备读取相比于从单个被测设备读取数据需要四倍的时间。结果，测试时间开销(TTO)通常是不可接受的。因此，通常通过将测试设备的单个PIN IO通道专用于被测设备上的单个数据PIN来执行测试。

在过去测试多个设备的另一个缺点是在从设备执行数据读取时缺乏设备之间的电隔离。因此，例如当使用单个数据线以串行方式读取两个设备时，坏的被测设备可不必要地造成另一被测设备看起来是损坏的或低质量的。例如，如果第一被测设备具有电短路，则当从第二被测设备读取时缺乏电隔离可造成第二被测设备不良地运转。结果，第二被测设备可归类为不达标。

发明内容

根据本发明的一个实施例，提供了用于从多个设备获得测试数据的设备。测试设备可包括测试信号生成器，该测试信号生成器配置为从测试设备输出第一测试信号，用于并行输入到至少两个被测设备。测试设备还可包括响应信号接收器，该响应信号接收器配置为向测试设备并行输入至少两个响应信号，响应于第一测试信号由其中一个被测设备产生每个响应信号。此外，测试设备可包括存储设备，例如配置为存储并行接收的响应信号的存储器。串行输出电路可配置为从存储设备串行输出响应信号。

根据本发明的另一个实施例，从多个设备获得测试数据的方法可通过以下来实现：从测试设备输出第一测试信号和将测试信号并行输入到至少两个被测设备；向测试设备并行输入至少两个响应信号，响应于第一测试信号由所述两个被测设备之一产生每个响应信号；在存储设备中存储并行接收的响应信号；和从存储设备串行输出响应信号以用于测试分析。

通过阅读这里描述的说明书和附图，将会理解本发明的另外实施例。

附图说明

图1根据本发明的一个实施例示出了多个被测设备的并行测试布置的框图。

图2示出了可用于实现图1中示出的自动化测试设备的计算设备的框图。

图3根据本发明的一个实施例示出了用于并行测试多个被测设备的自动化测试设备的框图。

图4根据本发明的一个实施例示出了可与图3中示出的电路一起使用的时序图的示例。

图5根据本发明的一个实施例示出了说明并行测试被测设备的方法的流程图。

图6A和6B根据本发明的一个实施例示出了说明并行测试多个被测设备的方法的流程图。

具体实施方式

自动化测试设备可用于以串行方式测试多个设备；然而，这种测试对于测试过程引入了很大的时间因数。结果，大多数测试设备配备有用于被测设备上的数据PIN的专用PIN电子通道。因此，在这些测试方案中，通道专用于单个设备的PIN。根据本发明的一个实施例，多个被测设备现在可用并行方式来测试。图1示出了用于由自动化测试设备104测试的多个设备1到N的耦合。

图1示出了其中自动化测试设备104与设备108、112、116、和120电耦合的电路100。这些设备代表被测设备并且实质上可以是任何数量的设备，它们可并行配置以使得自动化测试设备可分别向设备提供输入和从其接收输出。