[发明专利]棋盘格试验方法及棋盘格试验装置有效
申请号: | 200880108113.6 | 申请日: | 2008-09-17 |
公开(公告)号: | CN101802590A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 井尚志;大川刚义 | 申请(专利权)人: | 大金工业株式会社 |
主分类号: | G01N19/04 | 分类号: | G01N19/04 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 棋盘 试验 方法 试验装置 | ||
1.一种棋盘格试验方法,依次进行对涂布在基材(10)上的涂膜(11) 形成纵横切割线(12)的切割线形成步骤、在形成切割线(12)后使剥离力 作用在涂膜(11)上的剥离步骤、以及在剥离步骤以后基于涂膜(11)被剥 离后的状态评价涂膜(11)的黏着力的评价步骤,其特征在于:
所述切割线形成步骤,是一个等间隔地形成所述纵横切割线(12) 中的一切割线即第一切割线(12a),非等间隔地形成所述纵横切割线(12) 中的另一切割线即第二切割线(12b、12c)的步骤,
所述切割线形成步骤,是一个以形成在圆筒状基材(10)上的涂膜 (11)为切割线形成对象,等间隔地形成轴向连续的第一切割线(12a),另 一方面,非等间隔地形成周向连续的第二切割线(12b、12c)的步骤,
所述切割线形成步骤,是一个形成周向和轴向连续、螺旋角逐渐 变化的一条螺旋状切割线即所述第二切割线(12c)的步骤。
2.根据权利要求1所述的棋盘格试验方法,其特征在于:
所述切割线形成步骤,是一个让所述第二切割线(12b、12c)的间隔 形成为自一端朝着另一端逐渐增大或者减小的步骤。
3.根据权利要求1所述的棋盘格试验方法,其特征在于:
所述评价步骤,是一个通过测量与所述涂膜(11)剥离的部分相对应 的第二切割线(12b、12c)的间隔,评价涂布在所述基材(10)上的涂膜(11) 的黏着力的步骤。
4.一种棋盘格试验装置,包括对涂布在基材(10)上的涂膜(11)形成 纵横切割线(12)的切割线形成机构(20)、使剥离力作用在已形成有切割 线(12)的涂膜(11)上的剥离机构(20),利用该棋盘格试验装置对涂膜(11) 进行棋盘格试验,其特征在于:
所述切割线形成机构(20)包括等间隔地形成所述纵横切割线(12)中 的一切割线即第一切割线(12a)的第一切割部件(20a),非等间隔地形成 所述纵横切割线(12)中的另一切割线即第二切割线(12b、12c)的第二切 割部件(20b),
所述切割线形成机构(20)以形成在圆筒状基材(10)上的涂膜(11)为 切割线形成对象,第一切割部件(20a)构成为:等间隔地形成轴向连续 的第一切割线(12a);第二切割部件(20b)构成为:非等间隔地形成周向 连续的第二切割线(12b、12c),
所述第二切割部件(20b)构成为:形成周向和轴向连续、螺旋角逐 渐变化的一条螺旋状切割线即所述第二切割线(12c)。
5.根据权利要求4所述的棋盘格试验装置,其特征在于:
所述第二切割部件(20b)构成为:以所述第二切割线(12b、12c)的间 隔自一端朝着另一端逐渐增大或者减小的方式在涂膜(11)上形成所述 第二切割线(12b、12c)。
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