[发明专利]仿真传统测试系统的行为有效
申请号: | 200880110371.8 | 申请日: | 2008-10-03 |
公开(公告)号: | CN101821642A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 图沙尔·K·格赫尔;劳埃德·K·弗里克 | 申请(专利权)人: | 泰拉丁公司 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 谷惠敏;穆德骏 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 仿真 传统 测试 系统 行为 | ||
1.一种在对器件进行测试中所使用的装置,所述装置包括:
通信通道,具有可编程参数集,所述可编程参数集与所述通信信 道相关,所述可编程参数在所述通信通道上产生偏置条件,所述通信 通道是无效通信通道,所述偏置条件包括电流、电压和阻抗中的一个 或多个;以及
偏置控制电路,调整由所述可编程参数产生的所述偏置条件以便 仿真期望的偏置条件,所述期望的偏置条件对应于在对器件进行测试 中所使用的不同装置的另一个无效通信通道上的偏置条件。
2.如权利要求1所述的装置,进一步包括:
检测器,检测所述通信通道上的信号;以及
有源负载,向所述通信通道施用加载条件;
其中,所述可编程参数包括与检测器和有源负载的至少一个有关 的参数。
3.如权利要求1所述的装置,其中,所述不同装置用于执行依赖 于所述不同装置的另一个无效通信通道上的偏置条件的测试程序。
4.一种在对器件进行测试中所使用的装置,所述装置包括:
通信通道,具有可编程参数集,所述可编程参数集与所述通信信 道相关,所述可编程参数在所述通信通道上产生偏置条件,所述通信 通道是无效通信通道;以及
偏置控制电路,调整由所述可编程参数产生的所述偏置条件以便 仿真期望的偏置条件,所述期望的偏置条件对应于在对器件进行测试 中所使用的不同装置的另一个无效通信通道上的偏置条件;
所述偏置控制电路包括如下中的一个或多个:
(i)电流源,该电流源可控以便在所述通信通道上提供第一偏置 电流,所述第一偏置电流与当所述通信通道无效时出现在所述通信通 道上的第二偏置电流结合;
(ii)电路元件,电连接在电压源和所述通信通道间,所述电路元 件流过与所述电压源和所述通信通道相关的电流以便产生所述偏置条 件;
(iii)参数测量单元(PMU)。
5.如权利要求4所述的装置,进一步包括:
检测器,检测所述通信通道上的信号;以及
有源负载,向所述通信通道施用加载条件;
其中,所述可编程参数包括与检测器和有源负载的至少一个有关 的参数。
6.如权利要求5所述的装置,其中,所述可编程参数包括与检测 器有关的阈值电压和与所述有源负载有关的电压的至少一个。
7.如权利要求5所述的装置,其中,所述可编程参数包括所述通 信通道上的偏置控制电流。
8.如权利要求4所述的装置,其中,所述不同装置用于执行依赖 于所述不同装置的另一个无效通信通道上的偏置条件的测试程序。
9.如权利要求1所述的装置,其中,所述偏置控制电路包括:
电流源,该电流源可控以便在所述通信通道上提供第一偏置电流, 所述第一偏置电流与当所述通信通道无效时出现在所述通信通道上的 第二偏置电流结合。
10.如权利要求4或8所述的装置,其中,所述第一偏置电流和 所述第二偏置电流的结合对应于如果测试设备电连接到所述通信通道 将由所述测试设备产生的偏置电流。
11.如权利要求1或4所述的装置,进一步包括:
检测器,检测所述通信通道上的测试信号;
处理设备,使用所述测试信号来执行测试程序;
其中,所述测试程序配置成当所述通信通道无效时,预期来自所 述通信通道的电压;以及
其中,所述偏置控制电路配置成影响所述电压。
12.如权利要求1所述的装置,其中,所述偏置控制电路包括:
电路元件,电连接在电压源和所述通信通道间,所述电路元件流 过与所述电压源和所述通信通道相关的电流以便产生所述偏置条件。
13.如权利要求1所述的装置,其中,所述偏置控制电路包括参 数测量单元(PMU)。
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