[发明专利]对准调整装置、库装置以及对准调整方法无效
申请号: | 200880112007.5 | 申请日: | 2008-07-18 |
公开(公告)号: | CN101827764A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 佐佐木忍 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | B65G1/04 | 分类号: | B65G1/04;B65G1/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 党晓林;李艳艳 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 对准 调整 装置 以及 方法 | ||
1.一种对准调整装置,该对准调整装置为自动装置的对准调整装置,所述自动装置进行将被运送物运入到收纳架中以及从收纳架中将被运送物运出的运送动作,其特征在于,
该对准调整装置具有:
至少两个基准标志,所述基准标志设置于所述收纳架;
标志测定单元,该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述自动装置上对所述基准标志进行测定;以及
对准调整单元,该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差,所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元对各所述基准标志的测定值的变化量求得的。
2.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
所述标志测定单元对所述基准标志的测定以测定条件的成立为触发时机进行,所述测定条件在从测定所述基准标志起经过一定时间时成立、或者在所述自动装置发生了操作错误时成立。
3.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
所述标志测定单元将所述自动装置定位于离所述自动装置的当前位置最近的标志处,并在检测到的标志的变化量大的情况下,对该标志所在的对象面上的基准标志进行测定。
4.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
基于对所述自动装置的最初的盒运送命令,所述标志测定单元对位于对象面的基准标志进行测定。
5.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
所述标志测定单元在电源接通后的一定期间内对位于所述收纳架的对象面中的基准标志进行测定。
6.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
该对准调整装置具有多个自动装置,并且使用被搭载于待机状态下的自动装置中的标志测定单元,基于自动装置机构部的巡查动作,对基准标志进行测定。
7.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
该对准调整装置具有:
计时单元,该计时单元对所述基准标志的测定时间进行计时;以及
控制单元,在所述计时单元计时了至进入来自主计算机的超时为止的预定时间时,该控制单元在进入所述超时之前结束对所述基准标志的测定动作。
8.根据权利要求7所述的对准调整装置,其特征在于,
所述控制单元在结束了对所述基准标志的测定动作的情况下,使待机状态下的自动装置继续所述运送动作。
9.根据权利要求1所述的对准调整装置,其特征在于,
所述对准调整单元取得在多个位置对基准标志进行测定的测定结果,在多个测定值之差大的情况下,使用至少两个以上测定值进行所述对准调整。
10.一种对准调整装置,其特征在于,
该对准调整装置具有:
至少两个自动装置,所述自动装置进行将被运送物运入收纳架中、以及将被运送物从收纳架中运出的运送动作;
基准标志,所述基准标志设置于所述收纳架;
隔室标志,所述隔室标志设置于所述收纳架的单元中;以及
标志测定单元,在所述自动装置的一个自动装置发生隔室访问异常的情况下,所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前从所述自动装置切换为另一自动装置进行隔室访问,在所述自动装置中的这两个自动装置都发生隔室访问异常的情况下,所述标志测定单元在对所述基准标志进行测定之前对对象隔室标志进行测定。
11.根据权利要求10所述的对准调整装置,其特征在于,
在多个自动装置均发生错误的情况下,所述标志测定单元判断为所述隔室侧的时效变化,并对对象隔室标志进行再次测定。
12.一种库装置,该库装置具有运送盒的自动装置,其特征在于,
该库装置具有:
收纳架,该收纳架收纳所述盒;
至少一个基准标志,所述基准标志设置于所述收纳架中;
标志测定单元,该标志测定单元从定位于所述基准标志处的所述自动装置上对所述基准标志进行测定;以及
对准调整单元,该对准调整单元依照所述自动装置的倾斜度来调整所述自动装置的对准偏差,所述自动装置的倾斜度是根据所述标志测定单元的测定结果求得的。
13.根据权利要求12所述的库装置,其特征在于,
该库装置具有权利要求1~9中的任一项所述的对准调整装置。
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