[发明专利]使用串行受控的资源来测试器件的方法和装置

权利要求书

1.一种用于测试待测器件(DUT)的装置，包括：

集成电路(IC)，具有耦合至测试电路的串行化输入，所述测试电路响应于所述串行化输入上的测试控制信号而与所述DUT选择性地进行测试信号传送。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述测试电路包括：

移位寄存器，耦合至所述串行化输入，用于存储所述测试控制信号的比特；以及

测试资源，耦合至所述移位寄存器，用于响应于所述比特提供所述测试信号的至少一个源或汇。

3.根据权利要求2所述的装置，其中每个所述测试资源包括数字资源、模拟资源或电力资源中的一个。

4.根据权利要求2所述的装置，其中至少一个所述测试资源用于响应于至少一个所述比特生成相应的至少一个所述测试信号。

5.根据权利要求2所述的装置，其中至少一个所述测试资源配置用于响应于至少一个所述比特切换相应的至少一个所述测试信号。

6.一种探针卡组件，包括：

至少一个串行控制线，提供相应的至少一个测试控制信号；以及

串行地耦合以形成链的多个集成电路(IC)，所述链耦合至所述至少一个串行控制线，所述多个IC响应于所述至少一个测试控制信号而选择性地在测试资源和测试探针之间传送测试信号。

7.根据权利要求6所述的探针卡组件，其中所述多个IC中每一个IC包括：

至少一个控制组，每个控制组包括：

移位寄存器，配置用于存储所述至少一个测试控制信号的测试控制信号的比特；以及

多个所述测试资源，耦合至所述移位寄存器，配置用于响应于所述比特提供多个所述测试信号的至少一个源或汇。

8.根据权利要求7所述的探针卡组件，其中所述多个测试资源中的至少一个测试资源配置用于响应于至少一个所述比特生成所述多个测试信号中的相应的至少一个测试信号。

9.根据权利要求7所述的探针卡组件，其中所述多个测试资源中的至少一个配置用于响应于至少一个所述比特切换所述多个测试信号中的相应的至少一个测试信号。

10.根据权利要求6所述的探针卡组件，其中每个所述测试资源包括数字资源、模拟资源和电力资源中的一个。

11.根据权利要求6所述的探针卡组件，其中所述至少一个串行控制线包括提供第一测试控制信号的第一串行控制线和提供第二测试控制信号的第二串行控制线，并且其中所述多个IC中的所述测试资源包括响应于所述第一测试控制信号的第一测试资源链和响应于所述第二测试控制信号的第二测试资源链。

12.根据权利要求11所述的探针卡组件，其中所述第一测试资源链包括数字资源并且所述第二测试资源链包括电力资源。

13.一种测试组件，包括：

印刷线路板，包括用于连接至测试系统控制器的连接器，以及所述测试组件包括至少一个串行控制线，所述至少一个串行控制线从所述测试系统控制器提供的相应的至少一个测试控制信号；以及

探针头，支撑测试探针以及耦合至所述至少一个串行控制线的至少一个集成电路(IC)，所述至少一个IC响应于所述至少一个测试控制信号而选择性地在测试资源和测试探针之间传送测试信号。

14.根据权利要求13所述的测试组件，其中所述至少一个IC包括被串行地耦合以形成链的多个IC，所述链耦合至所述至少一个串行控制线。

15.根据权利要求13所述的测试组件，其中至少一个串行控制线包括提供第一测试控制信号的第一串行控制线和提供第二测试控制信号的第二串行控制线，并且其中所述至少一个IC中的所述测试资源包括响应于所述第一测试控制信号的第一测试资源链和响应于所述第二测试控制信号的第二测试资源链。

16.根据权利要求15所述的测试组件，其中所述第一测试资源链包括数字资源并且所述第二测试资源链包括电力资源。

17.根据权利要求13所述的测试组件，其中每个所述测试资源包括数字资源、模拟资源或电力资源中的一个。