[发明专利]存储器阵列中的差错校正有效

专利信息
申请号: 200880119512.2 申请日: 2008-10-07
公开(公告)号: CN101889267A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 伊兰·伊雷兹 申请(专利权)人: 桑迪士克以色列有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 黄小临
地址: 以色*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要:
搜索关键词: 存储器 阵列 中的 差错 校正
【权利要求书】:

1.一种用于校正存储器阵列中的差错的方法,该方法包括:

(a)提供用于校正在可校正的一组存储器单元中的高至第一比特差错率的差错的差错校正算法,所述可校正的组具有标准尺寸;

(b)生成具有与第一组存储器单元对应的信息的第一集合的ECC比特,所述第一组具有大于所述标准尺寸的第一尺寸;

(c)生成具有与第二组存储器单元对应的信息的第二集合的ECC比特,所述第二组具有小于所述第一尺寸的第二尺寸并且是所述第一组的一部分;

(d)应用所述差错校正算法以基于所述第一集合的ECC比特来校正在所述第一组中的差错;

(e)确定在步骤(d)中的基于所述第一集合的ECC比特的所述差错校正算法是否失败;以及

(f)如果所述差错校正算法失败,则应用所述差错校正算法以基于所述第二集合的ECC比特来校正在所述第二组中的差错。

2.如权利要求1所述的方法,还包括:

(f)基于所述第一集合的ECC比特来校正所述第一组。

3.如权利要求1所述的方法,还包括:

(f)基于所述第二集合的ECC比特来校正所述第二组。

4.如权利要求1所述的方法,还包括:

(f)在步骤(d)中所述生成所述差错校正算法之前,生成具有与另一组存储器单元对应的信息的另一集合的ECC比特,所述另一组具有小于所述第二尺寸的第三尺寸并且是所述第二组的一部分。

5.如权利要求4所述的方法,还包括:

(g)如果在步骤(e)中基于所述第二集合的ECC比特的所述差错校正算法失败,则应用所述差错校正算法以基于所述另一集合的ECC比特来校正在所述另一组中的差错。

6.如权利要求5所述的方法,还包括:

(h)基于所述另一集合的ECC比特来校正所述另一组。

7.如权利要求1所述的方法,其中应用步骤(e)以由此校正在所述第一组中的高至第二比特差错率的差错,所述第二比特差错率大于所述第一比特差错率。

8.一种用于校正在存储器阵列中的差错的计算机系统,所述计算机系统包括:

差错校正算法,能够校正在可校正的一组存储器单元中的高至第一比特差错率的差错,所述可校正的组具有标准尺寸;以及

存储器,可操作以存储具有与第一组存储器单元对应的信息的第一集合的ECC比特,以及存储具有与第二组存储器单元对应的信息的第二集合的ECC比特,所述第一组具有大于所述标准尺寸的第一尺寸,并且所述第二组具有小于所述第一尺寸的第二尺寸并且是所述第一组的一部分;

所述差错校正算法可操作以如果基于所述第一集合的ECC比特在所述第一组中应用的所述差错校正算法失败,则基于所述第二集合的ECC比特来校正所述第二组中的差错。

9.如权利要求8所述的计算机系统,其中所述存储器是闪存。

10.如权利要求8所述的计算机系统,其中所述差错校正算法还可操作以基于所述第一集合的ECC比特来校正所述第一组。

11.如权利要求8所述的计算机系统,其中所述差错校正算法还可操作以基于所述第二集合的ECC比特来校正所述第二组。

12.如权利要求8所述的计算机系统,其中所述存储器可操作以存储具有与另一组存储器单元对应的信息的另一集合的ECC比特,所述另一组具有小于所述第二尺寸的第三尺寸并且是所述第二组的一部分。

13.如权利要求12所述的计算机系统,其中所述差错校正算法还可操作以如果基于所述第二集合的ECC比特在所述第二组中应用的所述差错校正算法失败,则所述差错校正算法基于所述另一集合的ECC比特被应用于所述另一组中。

14.如权利要求13所述的计算机系统,其中所述差错校正算法还可操作以基于所述另一集合的ECC比特校正所述另一组。

15.如权利要求8所述的计算机系统,其中应用所述差错校正算法以由此校正在所述第一组中的高至第二比特差错率的差错,所述第二比特差错率大于所述第一比特差错率。

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