[发明专利]质量分析数据解析方法以及质量分析数据解析装置有效
申请号: | 200880129663.6 | 申请日: | 2008-06-04 |
公开(公告)号: | CN102057271A | 公开(公告)日: | 2011-05-11 |
发明(设计)人: | 野田阳;梅村佳克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 质量 分析 数据 解析 方法 以及 装置 | ||
1.一种质量分析数据解析方法,其特征在于,其对通过质量分析获取的、出现多价离子的峰的质谱数据进行解析处理,由此求出目标化合物的m/z值,该质量分析数据解析方法具有以下步骤:
a)价数推定步骤,检测质谱上的同位素簇,推定各同位素簇的价数;
b)代表点决定步骤,对于每个检测出的所述同位素簇,求出代表该同位素簇的m/z值;
c)候选提取步骤,根据推定为来自相同的目标化合物的两个以上的同位素簇的代表点以及价数的组合,求出在离子化时加合到目标化合物上或者从目标化合物上脱离的成分的候选m/z值;
d)加合/脱离成分选定步骤,对于通过多个同位素簇的不同组合得到的多个所述候选m/z值,对该候选m/z值或者作为其计算基础的同位素簇的组合的确实性进行评价,由此最终选定一个候选m/z值;以及
e)化合物推定步骤,根据所选定的加合/脱离成分的m/z值和价数来推定目标化合物的m/z值。
2.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法,其特征在于,
在所述加合/脱离成分选定步骤中,对多个候选m/z值应用统计方法,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
3.根据权利要求2所述的质量分析数据解析方法,其特征在于,
在所述加合/脱离成分选定步骤中,对多个候选m/z值的分散程度进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
4.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法,其特征在于,
在所述加合/脱离成分选定步骤中,对跨价数的、代表点的或者距离代表点最近的峰的强度比的相似性进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
5.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法,其特征在于,
在所述加合/脱离成分选定步骤中,对于不同的同位素簇,对构成该同位素簇的多个峰的全部或者一部分的图案形状的相似性进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
6.根据权利要求1所述的质量分析数据解析方法,其特征在于,
在所述代表点决定步骤中,将同位素簇中的最大强度峰附近的多个峰的重心的m/z值作为代表点。
7.一种质量分析数据解析装置,其特征在于,其对通过质量分析获取的、出现多价离子的峰的质谱数据进行解析处理,由此求出目标化合物的m/z值,其具备以下单元:
a)价数推定单元,其检测质谱上的同位素簇,推定各同位素簇的价数;
b)代表点决定单元,其对于每个检测出的所述同位素簇,求出代表该同位素簇的m/z值;
c)候选提取单元,其根据推定为来自相同的目标化合物的两个以上的同位素簇的代表点以及价数的组合,求出在离子化时加合到目标化合物上或者从目标化合物上脱离的成分的候选m/z值;
d)加合/脱离成分选定单元,其对于通过多个同位素簇的不同组合而得到的多个所述候选m/z值,对该候选m/z值或者作为其计算基础的同位素簇的组合的确实性进行评价,由此最终选定一个候选m/z值;以及
e)化合物推定单元,其根据所选定的加合/脱离成分的m/z值和价数来推定目标化合物的m/z值。
8.根据权利要求7所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述加合/脱离成分选定单元对多个候选m/z值应用统计方法,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
9.根据权利要求8所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述加合/脱离成分选定单元对多个候选m/z值的分散程度进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
10.根据权利要求7所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述加合/脱离成分选定单元对跨价数的、代表点的或者距离代表点最近的峰的强度比的相似性进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
11.根据权利要求7所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述加合/脱离成分选定单元对于不同的同位素簇,对构成该同位素簇的多个峰的全部或者一部分的图案形状的相似性进行评价,选定确实性较高的候选m/z值或者排除确实性较低的候选m/z值。
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