[发明专利]可实时测量的外圆精密磨削方法及设备无效

专利信息
申请号: 200910001008.9 申请日: 2009-01-19
公开(公告)号: CN101530976A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: 李祯祥 申请(专利权)人: 李祯祥
主分类号: B24B5/00 分类号: B24B5/00;B24B49/04
代理公司: 东莞市科安知识产权代理事务所 代理人: 周后俊
地址: 523770广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 实时 测量 精密 磨削 方法 设备
【说明书】:

技术领域:

发明涉及工件外圆磨削的设备、工艺技术领域,特别涉及可实时测量的外圆精密磨削方法及设备。

背景技术:

普通磨床在磨削工件外圆时,无法直接获得磨削尺寸,因此需要间断磨削来测量工件尺寸,以达到磨削要求。这样往往磨削一个工件下来需要停、开机多次,不但生产效率极低,而且无法保证产品合格率,更难以避免的是一旦稍有不慎,就会造成磨削过度,使工件报废,给企业造成损失,进一步降低生产效率。

发明内容:

本发明的目的在于克服现有技术的上述不足之处,提供一种可实时测量的外圆精密磨削方法。

本发明实现其目的采用的技术方案是:该方法包括如下步骤:

A.根据所需工件的尺寸来选择最恰当的预加工工件;

B.测量预加工工件的实际尺寸,并将预加工工件固定于磨床上;

C.定位一辅助测量仪,该辅助测量仪可实时测量工件被磨削的尺寸,并且具有可显示所磨削尺寸的仪表;

D.确定测量仪表指针的初始读数,并根据计算所得的需要磨削的厚度(预加工工件实际外径—所需工件外径),确定指针最终读数;

E.开始磨削,当指针指向最终读数时停止磨削,即得所需尺寸的工件。

本发明还提供一种外圆磨床的实时辅助测量仪以实现上述测量方法。

该测量仪包含一工件夹持本体,所述夹持本体上设有可分别调节及固定的第一定位件和第二定位件,第一定位件和第二定位件分别具有与圆形工件外圆接触的第一接触面和第二接触面;且所述工件夹持本体上还设有一测量臂和测量仪表,该测量臂具有始终保持与工件外圆接触的测量切面,所述测量臂与测量仪表相匹配,即所述测量臂的移动距离由所述测量仪表显示;其中,所述第二定位件安装在第一定位件上,且所述第一定位件上分别形成有用于定位第一定位件的第一刻度和用于定位第二定位件的第二刻度。

具体而言,所述夹持本体的一端部形成有安装第一定位件的条形通孔,所述条形通孔与夹持本体平行;所述第一定位件具有一直臂和一弯折臂,所述直臂安装于所述条形通孔中,且直臂上设置第一刻度,与条形通孔的垂直方向上设有第一调节螺栓;所述第二定位件套设于所述弯折臂上,且弯折臂上设置第二刻度,第二定位件通过第二调节螺栓调节固定。

所述第一刻度和第二刻度所对应的读数分别为第一定位件的第一接触面和第二定位件的第二接触面到工件转轴的距离。

所述夹持本体还形成有安装测量臂并供测量臂滑动的条形空间,该条形空间内设有弹簧,所述弹簧控制所述测量臂的测量切面保持与工件外圆接触。

所述测量臂还设有一联动机构,该联动机构由焊接在测量臂侧部的拨块形成,且该拨块穿出所述夹持本体的侧壁并与测量臂共同运动。可通过用手拨动拨块来调整测量臂的位置,以在定位时获得更合适空间使定位件便于定位。

所述的测量仪表为千分表,且所述测量仪表还设有两个环形可动标尺。可先使用其中一个标尺来标识指针初始位置,用另一个来标识所需位置,二者之间的刻度差即为需要磨削的厚度,因此可方便读数和确定磨削进度。本发明采用千分表作为测量仪表,有利于提高磨削精度,适合工件精加工。

所述测量仪还包括一底座和调节臂,所述调节臂安装于底座上,所述夹持本体与调节臂相连接。这样可以将测量仪固定安装在磨床上,并可以通过底座与调节臂之间的可活动连接以及调节臂自身的调节功能,可迅速控制和改变夹持本体的位置,从而灵活适应不同尺寸工件的需要。

本发明采用上述结构后,首先根据所需工件的尺寸来选择最恰当的预加工工件,测量预加工工件的尺寸后,将预加工工具固定于磨床;然后根据预加工工件的尺寸利用辅助测量仪的夹持本体上的第一刻度调节第一定位件,使刻度读数与预加工工件尺寸相同,同理通过第二刻度调节第二定位件,通过上述两次定位,可确保弹性测量触体的测量切面的测量精度;此时,读出测量仪表上所指的刻度,并移动一环形可动标尺至该刻度,然后根据所需要磨削的厚度移动另一环形可动标尺至相应刻度,然后启动磨床,开始磨削,关注指针移动,当移动至另一个标尺所指刻度时,停止磨削,即得所需尺寸之工件。

采用本发明所述之辅助测量仪及精密磨削方法,不但大幅提高了工件磨削的生产效率,较传统磨床磨削提高效率至少2~5倍,更可以确保磨削加工的工件达到确定尺寸,保证产品的合格率。

附图说明:

图1是本发明的结构示意图;

图2是本发明夹持本体的立体结构示意图;

图3、图4是本发明测量仪表的结构示意图。

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