[发明专利]半导体激光装置无效
申请号: | 200910001611.7 | 申请日: | 2009-01-09 |
公开(公告)号: | CN101483318A | 公开(公告)日: | 2009-07-15 |
发明(设计)人: | 藤本康弘;中谷东吾;高山彻;木户口勋 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01S5/40 | 分类号: | H01S5/40;H01S5/22 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 激光 装置 | ||
1.一种半导体激光装置,具备:在半导体基板上相互隔着分离槽而 形成,具有第一脊条部的第一半导体激光器构造和具有与所述第一脊条部 平行设置的第二脊条部的第二半导体激光器构造,
所述第一半导体激光器构造具有在所述半导体基板上依次形成的第 一金属包层、第一活性层、第二金属包层及第一电流阻碍层,
所述第二半导体激光器构造在所述半导体基板上具有隔着所述分离 槽依次形成的第三金属包层、第二活性层、第四金属包层及第二电流阻碍 层,
在所述第二金属包层中的所述第一脊条部的与所述第二半导体激光 器构造相反侧的侧面上及侧方的区域上形成有第一应变缓和层,
在所述第四金属包层中的所述第二脊条部的与所述第一半导体激光 器构造相反侧的侧面上及侧方的区域上形成有第二应变缓和层,
当设所述第二金属包层及第四金属包层的热膨胀系数为Tc、所述第一 电流阻碍层及第二电流阻碍层的热膨胀系数为Tb、所述第一应变缓和层 及第二应变缓和层的热膨胀系数为Ts时,满足Tb<Tc<Ts的关系。
2.一种半导体激光装置,具备:在半导体基板上相互隔着分离槽而 形成,具有第一脊条部的第一半导体激光器构造和具有与所述第一脊条部 平行设置的第二脊条部的第二半导体激光器构造,
所述第一半导体激光器构造具有在所述半导体基板上依次形成的第 一金属包层、第一活性层、第二金属包层及第一电流阻碍层,
所述第二半导体激光器构造在所述半导体基板上具有隔着所述分离 槽依次形成的第三金属包层、第二活性层、第四金属包层及第二电流阻碍 层,
在所述第二金属包层中的所述第一脊条部的与所述第二半导体激光 器构造对置侧的侧面上及侧方的区域上形成有第一应变缓和层,
在所述第四金属包层中的所述第二脊条部的与所述第一半导体激光 器构造对置侧的侧面上及侧方的区域上形成有第二应变缓和层,
当设所述第二金属包层及第四金属包层的热膨胀系数为Tc、所述第一 电流阻碍层及第二电流阻碍层的热膨胀系数为Tb、所述第一应变缓和层 及第二应变缓和层的热膨胀系数为Ts时,满足Ts<Tc<Tb的关系。
3.根据权利要求1或2所述的半导体激光装置,其特征在于,
所述第一脊条部及第二脊条部相对所述半导体基板中的与所述各脊 条部延伸的方向垂直的宽度方向的中心线对称形成。
4.根据权利要求1或2所述的半导体激光装置,其特征在于,
所述第一电流阻碍层、第二电流阻碍层、第一应变缓和层及第二应变 缓和层由以氮化硅、氧化锆、氧化铝、氧化硅或氢化无定形硅为主要成分 的材料构成。
5.根据权利要求1或2所述的半导体激光装置,其特征在于,
当设所述第一电流阻碍层及第二电流阻碍层的膜厚为d1、所述第一应 变缓和层及第二应变缓和层的膜厚为d2时,
100nm≤d1≤450nm且10nm≤d2≤300nm。
6.一种半导体激光装置,具备:在半导体基板上相互隔着分离槽而 形成,具有第一脊条部的第一半导体激光器构造和具有与所述第一脊条部 平行设置的第二脊条部的第二半导体激光器构造,
所述第一半导体激光器构造具有在所述半导体基板上依次形成的第 一金属包层、第一活性层、第二金属包层及第一电流阻碍层,
所述第二半导体激光器构造在所述半导体基板上具有隔着所述分离 槽依次形成的第三金属包层、第二活性层、第四金属包层及第二电流阻碍 层,
在所述第二金属包层中的所述第一脊条部两侧面上及两侧方的区域 上形成有应变缓和层,
当设所述第二金属包层的热膨胀系数为Tc、所述第一电流阻碍层的热 膨胀系数为Tb、所述应变缓和层的热膨胀系数为Ts时,满足Tb<Tc<Ts 的关系。
7.根据权利要求1、2及6中任意一项所述的半导体激光装置,其特 征在于,
所述分离槽中的该分离槽延伸的方向的中心线形成为,与所述半导体 基板中的和所述各脊条部延伸的方向垂直的宽度方向的中心线一致。
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