[发明专利]点光源线排列式检测装置无效
申请号: | 200910008391.0 | 申请日: | 2009-02-27 |
公开(公告)号: | CN101819159A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | 郑昆贤;吴昱庆;林昌达 | 申请(专利权)人: | 由田新技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李强 |
地址: | 中国台湾台北县中*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光源 排列 检测 装置 | ||
1.一种点光源线排列式检测装置,适用于检测一待测物的一待测表面,所述待测表面反射至少部分光线,其特征在于,所述检测装置包含:
一影像撷取单元,供撷取所述待测表面的影像,并包括一镜头方向朝向所述待测表面的取像镜头;及
一点光源单元,包括多个相间隔且沿一第一直线方向排列的点光源,并提供多个照射光束使所述待测表面形成多个相间隔的亮区及暗区。
2.根据权利要求1所述的点光源线排列式检测装置,其特征在于,还包含一设置于所述取像镜头与所述待测表面间的偏光镜,所述偏光镜包括一以45度面向所述待测表面的反射面,而所述取像镜头的镜头方向实质垂直所述待测表面,所述点光源朝所述偏光镜的反射面发射多条原始光束,所述原始光束经所述偏光镜部分反射而形成朝向所述待测表面实质垂直地照射的所述照射光束。
3.根据权利要求1或2所述的点光源线排列式检测装置,其特征在于,所述第一直线平行所述待测表面。
4.根据权利要求3所述的点光源线排列式检测装置,其特征在于,所述取像镜头为平行所述第一直线延伸的长形镜头。
5.根据权利要求3所述的点光源线排列式检测装置,其特征在于,所述点光源是LED点光源。
6.根据权利要求3所述的点光源线排列式检测装置,其特征在于,所述点光源是激光点光源。
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