[发明专利]羟基化学键取向红外光谱测角仪及其测量方法无效
申请号: | 200910023733.6 | 申请日: | 2009-08-28 |
公开(公告)号: | CN101644669A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 杨正华;吴永新 | 申请(专利权)人: | 长安大学 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 | 代理人: | 李子安 |
地址: | 710054*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 羟基 化学键 取向 红外 光谱 测角仪 及其 测量方法 | ||
1、一种羟基化学键取向红外光谱测角仪,其特征在于包括空心的基体,所述基体上端设置有水平的有角度读数的刻度盘,所述基体后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝,所述透光狭缝两端设置有调整板,所述调整板上设置有用于调节所述透光狭缝大小的微调螺栓,所述基体前端设置有载样器,所述载样器上设置有用于透过红外光并且与所述透光狭缝平齐的观察窗口,所述刻度盘上设置有指针,所述基体下端设置有用于调节所述载样器旋转角度的调节钮,所述载样器上下设置有用于所述载样器旋转的转轴,所述载样器通过所述转轴连接所述指针,所述载样器通过所述转轴连接所述调节钮。
2、根据权利要求1所述的羟基化学键取向红外光谱测角仪,其特征在于所述载样器上设置有用于安装样片的样片插槽。
3、根据权利要求1或2所述的羟基化学键取向红外光谱测角仪,其特征在于所述基体后端设置有用于插入调整板的上下滑槽。
4、根据权利要求1或2所述的羟基化学键取向红外光谱测角仪,其特征在于所述观察窗口的红外光进口大于红外光出口。
5、利用如权利要求1所述的羟基化学键取向红外光谱测角仪进行羟基化学键取向测量的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)选取用沉降法制成的粘土矿物类载样片,然后将粘土矿物类载样片置于红外光谱测角仪的载样器的观察窗口上;
2)将红外光谱测角仪夹持在红外光谱仪的样品架上,用红外光谱测角仪的微调螺栓调整透光狭缝宽度d的大小,使透光狭缝宽度0<d≤5mm;
3)利用红外光谱测角仪的调节钮调整载样器,使粘土矿物类载样片以顺时针方向转动;
4)由红外光谱仪记录粘土矿物类载样片在不同角度时粘土矿物类羟基部分吸收的红外光强度变化曲线。
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