[发明专利]羟基化学键取向红外光谱测角仪及其测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种羟基化学键取向红外光谱测角仪及其测量方法。

背景技术

解决粘土矿物羟基取向问题，为许多学者所关注，羟基(HO-化学键)在天然矿物或人工矿物中，在矿物晶体结构中具有很重要的意义，它的数量，占位和方向能够反映晶体结构微观特性，尤其是化学键的方向特性可提供晶体结构的微观信息。原来测试方法(中子衍射法)测试利用羟基对红外的敏感性，根据吸收强度与入射光电矢量和振动电偶极矩的关系以及片状粘土矿物定向羟基的分布特征，建立羟基相对于(001)面取向的电矩圆锥模型进行计算得出结论；目前市场缺乏一种测定方法既简单又经济，具有较广泛的应用范围的羟基化学键取向红外光谱测角仪。

发明内容

本发明的目的是针对上述现有技术的不足，提供一种能够直观得到与复杂的量子化学计算结果相近的数据，并且体积小，结构简单的羟基化学键取向红外光谱测角仪。

本发明解决上述技术问题采取的技术方案是：一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，其特征在于包括空心的基体，所述基体上端设置有水平的有角度读数的刻度盘，所述基体后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝，所述透光狭缝两端设置有调整板，所述调整板上设置有用于调节所述透光狭缝大小的微调螺栓，所述基体前端设置有载样器，所述载样器上设置有用于透过红外光并且与所述透光狭缝平齐的观察窗口，所述刻度盘上设置有指针，所述基体下端设置有用于调节所述载样器旋转角度的调节钮，所述载样器上下设置有用于所述载样器旋转的转轴，所述载样器通过所述转轴连接所述指针，

所述载样器通过所述转轴连接所述调节钮。

所述载样器上设置有用于安装样片的样片插槽。

所述基体后端设置有用于插入调整板的上下滑槽。

所述观察窗口红外光进口大于红外光出口。

利用羟基化学键取向红外光谱测角仪进行羟基化学键取向测量的方法，包括以下步骤：

1)选取用沉降法制成的粘土矿物类载样片，然后将粘土矿物类载样片置于红外光谱测角仪的载样器的观察窗口上；

2)将红外光谱测角仪夹持在红外光谱仪的样品架上，用红外光谱测角仪的微调螺栓调整透光狭缝宽度d的大小，使透光狭缝宽度0＜d≤5mm；

3)利用红外光谱测角仪的调节钮调整载样器，使粘土矿物类载样片以顺时针方向转动；

4)由红外光谱仪记录粘土矿物类载样片在不同角度时粘土矿物类羟基部分吸收的红外光强度变化曲线。

本发明与现有技术相比具有以下优点：

1、以直观的一定角度转动的载样器所指示的角度得到了复杂的量子化学计算过程相近的数据。

2、产品体积小，结构简单，能安装在一般的红外光谱仪的样品架上。

下面结合附图对本发明做进一步的详细描述。

附图说明

图1为本发明红外光谱测角仪的背面结构示意图。

图2为本发明红外光谱测角仪的正面结构示意图。

图3为本发明红外光谱测角仪的侧面结构示意图。

图4为本发明红外光谱测角仪上端刻度盘的结构示意图。

图5为本发明载样器的结构示意图。

图6为图5的A-A剖面放大图。

附图标记说明：

1-透光狭缝； 2-刻度盘；  3-指针；

4-载样器；   5-基体；    7-观察窗口；

8-转轴；     9-调整板；  10-微调螺栓；

11-滑槽；    12-调节钮； 13-样片插槽；

具体实施方式

如图1-图6所示的一种羟基化学键取向红外光谱测角仪，包括空心长方体形的基体5，基体5上端设置有水平的有角度读数的刻度盘2，基体5后端设置有用于红外光穿过的透光狭缝1，透光狭缝1两端设置有调整板9，调整板9上设置有用于调节透光狭缝1大小的微调螺栓10，基体5前端设置有载样器4，载样器4上设置有用于透过红外光并且与透光狭缝1平齐的观察窗口7，刻度盘2上设置有指针3，基体5下端设置有用于调节载样器4旋转角度的调节钮12，载样器4上下设置有用于载样器4旋转的转轴8，指针3和载样器4之间通过转轴8连接，载样器4和调节钮12之间通过转轴8连接。载样器4上设置有用于安装样片的样片插槽13，基体5后端设置有上下滑槽11，用于插入调整板9。

观察窗口7红外光进口大于红外光出口，有利于红外光穿过该通孔。

利用羟基化学键取向红外光谱测角仪进行羟基化学键取向测量的方法，包括以下步骤：