[发明专利]用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备无效
申请号: | 200910027562.4 | 申请日: | 2009-05-12 |
公开(公告)号: | CN101559628A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 赵裕兴;冯唐忠 | 申请(专利权)人: | 苏州德龙激光有限公司;江阴德飞激光设备有限公司 |
主分类号: | B28D5/04 | 分类号: | B28D5/04;B28D7/02;B23K26/38;G02B17/08;H01L21/304 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215021江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 切割 大幅面 micro phone 芯片 紫外 激光设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备,属于激光精密加工制造技术领域。
背景技术
随着全球各国绿色能源的推广和近年来半导体产业的超常规发展,硅片市场的供需已极度不平衡,切割加工能力的落后和产能的严重不足已构成了产业链的瓶颈,严重阻碍了太阳能和半导体产业的发展。作为硅片(晶圆)生产的关键技术,近年来崛起的新型硅片切割技术,具有切割表面质量高、切割效率高和可切割大尺寸材料、方便后续加工等特点。硅片切割是电子工业主要原材料——硅片(晶圆)生产的关键技术,切割的质量与规模直接影响到整个产业链的后续生产。硅片的巨大需求表现在集成电路等半导体产业上。硅占整个半导体材料的95%以上,单晶硅片是半导体器件生产的关键性基材,是电子产业的基础支撑材料。硅片加工工艺流程一般经过晶体生长、切断、外径滚磨、平边、切片、倒角、研磨、腐蚀、抛光、清洗、包装等阶段。近年来半导体行业的迅速发展对硅片的加工提出了更高的要求,一方面为了降低制造成本,硅片趋向大直径化,机械加工大直径比较困难,另一方面要求硅片有极高的平面度精度和极小的表面粗糙度。所有这些要求极大的提高了硅片的加工难度,由于硅材料具有脆、硬等特点,直径增大造成加工中的翘曲变形,加工精度不易保证。普通的机械加工方式加工速度慢,成品良率低,加工成本高。在机械加工中容易损伤Micro Phone硅片正面的声带膜,且在切割的过程中灰尘比较多,会造成Micro Phone硅片的不良。
紫外激光切割技术应用于半导体硅片晶圆是一种新的应用工艺,紫外激光切割技术采用355nm或其它短波长的紫外激光非接触式激光冷加工,具有光束质量高(M2<1.2)、脉冲频率高(30kHz~120kHz)、脉宽窄(<20ns)的特点,几乎能够实现对所有硅材质的切割。此外,紫外激光出色的聚焦能力很容易实现小于20um的切割线宽,与传统的机械切割50um以上的切割线宽相比,在精密切割方面具有明显的优势,且在加工中使用了专用冶具,只是将Micro Phone硅片的架在专用冶具上,产用了真空吸附使其固定切割。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的不足,提供一种用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备,旨在降低加工成本,简化加工工艺,减小加工难度,提高加工良率。
本发明的目的通过以下技术方案来实现:
用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备,包括紫外激光器和加工平台,特点是:所述紫外激光器的输出端设置有光闸,光闸的输出端连接有扩束镜,扩束镜的输出端布置有第一反射镜,第一反射镜衔接第二反射镜,第二反射镜衔接第三反射镜,第三反射镜的输出端连接有聚焦镜,聚焦镜正对于加工平台;紫外激光器发出的激光入射到光闸,激光经过光闸垂直入射到扩束镜,经过扩束镜后的激光依次入射到第一反射镜、第二反射镜及第三反射镜,反射后的激光垂直入射到聚焦镜,透过聚焦镜的激光聚焦于加工平台上。
进一步地,上述的用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备,其中,所述紫外激光器的输出波长为355nm。
更进一步地,上述的用于切割大幅面Micro Phone芯片的紫外激光设备,其中,在加工平台的一侧设置有除尘装置。
本发明技术方案突出的实质性特点和显著的进步主要体现在:
本发明紫外激光加工设备设计新颖,实现了紫外激光切割大幅面Micro Phone硅片,切割的最大幅面可达8英寸,应用紫外激光切割避免了机械切割Micro Phone硅片存在的缺点,采用紫外激光切割大幅面MicroPhone硅片比普通的机械加工方式操作更加方便,切割速度快,外观非常理想,加工效率高,不仅降低了加工的成本,还显著提高了成品率,为一实用的新设计。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明:
图1:本发明的构造原理示意图;
图2:冶具的结构示意图。
图中各附图标记的含义见下表:
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