[发明专利]能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法有效

专利信息
申请号: 200910046834.5 申请日: 2009-02-27
公开(公告)号: CN101494272A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 郝茂盛;周健华;张楠;陈诚;潘尧波 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 201203上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: led gan 表面 制作方法
【权利要求书】:

1.一种能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法,其特征在于包括步骤:

1)在半导体衬底上依次生长出N-GaN层、量子阱层、P-GaN层、及非掺杂且呈尖锥状的粗化GaN层;

2)采用离子干法刻蚀中的ICP刻蚀所述非掺杂的粗化GaN层以使所述非掺杂的粗化GaN层的粗化表面的尖锥形状转移至所述P-GaN层,从而使所述P-GaN层表面粗化。

2.如权利要求1所述的能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法,其特征在于:在所述半导体衬底上生长各层为连续性生长。

3.如权利要求1或2所述的能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法,其特征在于:所述生长采用金属有机物化学气相沉积法进行。

4.如权利要求1所述的能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法,其特征在于:所述半导体衬底的材料为硅及SiC中的一种。

5.一种能使LED的P-GaN层表面粗化的制作方法,其特征在于包括步骤:

1)在蓝宝石衬底上依次生长出N-GaN层、量子阱层、P-GaN层、及非掺杂且呈尖锥状的粗化GaN层;

2)采用离子干法刻蚀中的ICP刻蚀所述非掺杂的粗化GaN层以使所述非掺杂的粗化GaN层的粗化表面的尖锥形状转移至所述P-GaN层,从而使所述P-GaN层表面粗化。

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