[发明专利]基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法无效

专利信息
申请号: 200910047670.8 申请日: 2009-03-17
公开(公告)号: CN101515019A 公开(公告)日: 2009-08-26
发明(设计)人: 王庆翔 申请(专利权)人: UT斯达康通讯有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/317
代理公司: 上海和跃知识产权代理事务所 代理人: 李崧岩
地址: 310053浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 可编程 器件 动态 边界 扫描 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,测试系统包括测试机,至少一个可编程器件,以及待测试的边界扫描链路,其特征在于:所述动态边界扫描链路测试方法包括如下步骤:

步骤1、将边界扫描链路链接器DSCL例化到可编程器件之内;

步骤2、动态地链接所需要测试的边界扫描链路;

步骤3、进行测试

其中,所述的扫描链路链接器DSCL包括一个IEEE1149.1测试访问端口TAP状态机,一个指令寄存器,一个标识符寄存器,一个链路控制寄存器,一个RTI同步寄存器,一个旁路寄存器和一个链路链接器,一组测试访问端口TAP和N组供链接扫描端口LSP;

所述的动态地链接所需测试的边界扫描链路的过程如下:

步骤a:测试机使用异步复位机制或使用同步复位机制,使所述的TAP状态机进入测试逻辑重设置状态,此时DSCL的同步机制使得所有挂接在LSP上待测扫描链路进入测试逻辑重设置状态,与此同时链路控制寄存器清零,即所有的LSP将被卸载;

步骤b:测试机控制所述的TAP状态机至SCAN-IR,设置所述指令寄存器的值为SCANSEL;

步骤c:测试机控制所述TAP状态机至SCAN-DR,由于在步骤2已设置所述指令寄存的值为SCANSEL,根据测试需求,设置所述的链路控制寄存器;

步骤d:当所述TAP状态机状态流转为UPDATE-DR后,所述的链路控制寄存器生效,所述TAP状态机和LSP端口所链接的边界扫描链路的TAP状态机开始同步,链路的拓扑也随之发生改变。

2.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:所述的例化,是指将采用HDL RIL代码描述所述扫描链路链接器DSCL经过逻辑综合、布局布线转换成目标可编程器件技术库逻辑单元和连接,并最终生成编程文件上传到所述的可编程器件之内。

3.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:所述的可编程器件是所述待测试的边界扫描链路所在的电路组装板上有多余资源的可编程器件。 

4.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:所述的链路控制寄存器为2N bit寄存器,通过扩展寄存器的位数能支持更多的待测边界扫描链路,所述的N为正整数。

5.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:所述的链路控制寄存器每2个bit为一组,对应一个LSP端口,其中一个bit为EN位,另外一个bit为TMS位,所述的EN值表示其对应的LSP端口是否被选中,所述的TMS位和所述的RTI同步寄存器一起决定对应的LSP端口未被加载时其TMS的状态。

6.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:如果在测试中,需要加载或卸载待测试的边界扫描链路,测试机只需要执行上述步骤b-d改变链路控制寄存器的值从而实现加载或卸载。

7.根据权利要求1所述的一种基于可编程器件的动态边界扫描链路测试方法,其特征在于:通过将M个边界扫描链路链接器DSCL级联的方式,可以支持M*N的待测试边界扫描链路。 

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