[发明专利]硼酸钆锂晶体的晶体生长方法无效

专利信息
申请号: 200910054212.7 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN101597796A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 潘尚可;杨帆;任国浩;丁栋舟;陆晟;张卫东 申请(专利权)人: 上海硅酸盐研究所中试基地;中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C30B29/22 分类号: C30B29/22;C30B15/00
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 许亦琳;余明伟
地址: 201800*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 硼酸 晶体 晶体生长 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及晶体生长领域,具体涉及一种硼酸钆锂晶体的晶体生长方法。

背景技术

硼酸钆锂晶体(分子式组成为Li6CexGd1-xB3O9)通过晶体中富集的锂-6或硼-10或钆-155 或钆-157同位素与中子进行反应来探测中子,首先由美国的J.B.Czirr于1996年报道了其 作为中子探测闪烁晶体的潜在用途。作为一种新型中子探测闪烁晶体,Li6CexGd1-xB3O9具有 以下优点:

(1)同时含有Li、B和Gd三种对中子具有较大俘获截面的同位素的元素,可以根据 不同的探测需求选择不同的同位素富集组合,优化设计出更高探测效率的晶体组分,因此该 晶体具有很强的适应性。

(2)发光中心是Ce3+离子,具有衰减时间短(28ns)、光输出高(每个中子激发产生 40000个光电子,每MeVγ射线激发产生25000个光电子)以及发光波长(中心波长为395nm) 与光电倍增管(PMT)耦合好等特点,因而其探测效率高,是6Li玻璃的6倍和BC-454的 9倍。

(3)有效原子序数低(46.3),容易消除γ射线背景。

(4)折射率低(1.67405nm),很容易与聚合物复合,非常适合于大面积中子探测和 成像。

(5)既可以利用该晶体的块状单晶制作小面积的中子探测器,也可以利用该晶体的特 定颗粒的粉末制作出大面积中子探测器。

提拉法又称丘克拉斯基法,是丘克拉斯基(J.Czochralski)在1917年发明的从熔体中提 拉生长高质量单晶的方法。这种方法能够生长掺钕钇铝榴石、钒酸钇、铌酸锂和单晶硅等重 要的晶体材料。

硼酸钆锂晶体熔点低(860℃左右),适合用提拉法生长。但同时该晶体具有熔体粘度大、 晶体生长速度慢、晶体导热性差等缺点,使得该晶体在提拉法生长过程中极易形成过冷态或 界面翻转,从而使得该晶体直径难以放大,甚至导致生长被迫中止,这是生长中遇到的最大 问题。现有技术中一般使用普通圆筒型坩埚的提拉法生长硼酸钆锂晶体,使用这种坩埚来生 长晶体时易出现凹界面或难以长成大直径的缺点。因此,有必要在现有提拉法生长技术上进 行更进一步的改进,以生长出满足应用要求的大尺寸高质量硼酸钆锂晶体。

通过对硼酸钆锂晶体生长时熔体的对流状况进行分析,发现当晶体的直径增大到一定程 度后,熔体的强迫对流将会将坩埚底部的热量传输至晶体生长的固液界面,使晶体生长中心 部位温度偏高,致使晶体生长无法进行,甚至会熔蚀已经生长的晶体,从而产生凹界面,使 得晶体生长的界面发生翻转,从而使晶体无法长大长长,限制了晶体的尺寸。

发明内容

本发明的目的是提供一种硼酸钆锂晶体的晶体生长方法,为将晶体生长原料采用提拉法 生长,其中,所述硼酸钆锂晶体的化学式为Li6CexGd1-xB3O9,x的取值范围是0<x≤0.1; 采用提拉法生长时,选用上半部分为圆柱体形,下半部分为弧形或者锥形底部的异型坩埚作 为生长坩埚。

所述晶体生长原料由包括下列步骤的方法制得:

A.按配比称量各种原料后混合配料;

B.晶体生长原料的合成。

所述步骤A中的原料包括含Li元素原料、含B元素原料、含Gd元素原料和含Ce元素 原料。

优选的,所述含Li元素原料选自Li2CO3和LiOH中的一种或多种;所述含B元素原料 选自H3BO3和B2O3中的一种或多种;所述含Gd元素原料为Gd2O3;所述含Ce元素原料选 自CeO2和Ce(NO3)3中的一种或多种。

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