[发明专利]化学气相沉积设备的安装方法及化学气相沉积设备有效

专利信息
申请号: 200910056731.7 申请日: 2009-08-20
公开(公告)号: CN101994100A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 沈建飞;徐皓;潘雯海;胡小栋 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 化学 沉积 设备 安装 方法
【权利要求书】:

1.一种化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,包括步骤:

将晶舟安装在基座上,且在所述晶舟一侧设置有投影板;

在所述投影板上设置参照物;

第一光束照射所述晶舟,使所述晶舟投影到所述投影板上形成晶舟投影;

沿所述基座的中心轴旋转所述基座,且上述晶舟和所述基座一起旋转,测量在旋转过程中所述晶舟投影与所述参照物之间的距离,当旋转过程中所述距离发生变化时,则调整所述晶舟在所述基座上的位置。

2.根据权利要求1所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,所述晶舟安装在基座上方,所述投影板设置在所述晶舟上方;第一光束从所述基座下方,向上方照射所述晶舟;

所述参照物的设置方法为,利用第二光束向上方照射,且所述第二光束直接照射在投影板上,形成光束影像,所述光束影像为所述参照物。

3.根据权利要求2所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,将晶舟安装在基座上方步骤之前还包括:将基座安装在金属支架上方,在所述基座上方设置投影板;

第一光束从所述基座下方,向上方照射所述基座,使所述基座投影到所述投影板上形成基座投影,第二光束向上方照射,且所述第二光束直接照射在投影板上,形成光束影像;

沿所述金属支架的中心轴旋转所述金属支架,且所述基座和所述金属支架一起旋转,测量在旋转过程中所述基座投影与光束影像之间的距离,当旋转过程中所述距离发生变化时,则调整所述基座在所述金属支架上的位置。

4.根据权利要求3所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,所述第一光束沿所述基座的中心轴方向照射。

5.根据权利要求4所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,所述第二光束沿所述基座的中心轴方向照射。

6.根据权利要求5所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,所述光束影像为圆形。

7.根据权利要求6所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,所述晶舟投影为圆形。

8.根据权利要求7所述的化学气相沉积设备的安装方法,其特征在于,在旋转前所述光束影像和所述晶舟投影相切。

9.一种化学气相沉积设备,包括:晶舟,用于盛放晶片,安装在基座上;基座,用于安装所述晶舟并带动其沿所述基座的中心轴旋转;其特征在于,还包括:

投影板,位于所述晶舟一侧;

第一发光设备,用于照射所述晶舟,晶舟投影到所述投影板上形成晶舟投影;

参考物,设置于所述投影板上。

10.根据权利要求9所述的化学气相沉积设备,其特征在于,

所述投影板位于所述晶舟上方;

第一发光设备位于所述基座下方;

还包括第二发光设备,用于从所述基座下方,向上方照射,且所述第二发光设备直接照射在投影板上,形成光束影像,所述光束影像为所述参照物。

11.根据权利要求10所述的化学气相沉积设备,其特征在于,还包括:金属支架和热缩套管,所述基座安装在金属支架上方,将所述金属支架安装在热缩套管上方;且

第一发光设备位于所述热缩套管下方。

12.根据权利要求11所述的化学气相沉积设备,其特征在于,所述第一发光设备沿所述基座的中心轴方向照射。

13.根据权利要求12所述的化学气相沉积设备,其特征在于,所述第二发光设备沿所述基座的中心轴方向照射。

14.根据权利要求13所述的化学气相沉积设备,其特征在于,所述光束影像为圆形。

15.根据权利要求14所述的化学气相沉积设备,其特征在于,所述晶舟投影为圆形。

16.根据权利要求15所述的化学气相沉积设备,其特征在于,在旋转前所述光束影像和所述晶舟投影相切。

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