[发明专利]电子元件成膜新工艺无效
申请号: | 200910064159.9 | 申请日: | 2009-01-22 |
公开(公告)号: | CN101477957A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
发明(设计)人: | 单东林;王宁;王晓莉 | 申请(专利权)人: | 南阳市信利佳电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L23/06 |
代理公司: | 南阳市智博维创专利事务所 | 代理人: | 张天禧 |
地址: | 473000河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 新工艺 | ||
1、一种电子元件成膜工艺,其特征是采用以下工艺步骤:材料处理—第一道成膜—第二道成膜—成品。
2、如权利要求1的电子元件成膜工艺,其特征是所述材料处理,把多种成膜材料中需要沉淀的化学物质置于防氧化烧结炉中结晶,出炉冷却后研磨成β晶体。
3、如权利要求1的电子元件成膜工艺,其特征是所述第一道成膜,将电子元件基体摆放在容器内,加入纯水淹没,把β晶体材料加水搅匀后喷洒在水面上,待β晶体完全沉淀后放掉并收集容器内的水,将沉积成膜后的电子元件基体烘干。
4、如权利要求1的电子元件成膜工艺,其特征是所述第二道成膜,将成膜材料中需要溶于水的化学物质稀释后,装入雾化机通过管道将冷雾引入置有第一道成膜后的电子元件基体的雾化室进行表面雾化,将雾化后的电子元件基体烘干。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造