[发明专利]像素结构及其维修方法有效

专利信息
申请号: 200910078162.6 申请日: 2009-02-19
公开(公告)号: CN101813858A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 陈宇鹏 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/13
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 像素 结构 及其 维修 方法
【权利要求书】:

1.一种像素结构,包括栅极扫描线、数据扫描线,所述栅极扫描线与数据 扫描线交叉形成像素单元,所述像素单元中设有像素电极,两个相邻像素电极 之间的数据扫描线处对应设有遮光部,其特征在于:所述遮光部为封闭式结构 并与所述栅极扫描线连接,所述遮光部包括两条与数据扫描线平行的竖向遮光 条、以及两条与栅极扫描线平行的横向遮光条;所述两条竖向遮光条位于所述 数据扫描线的两侧,所述两条横向遮光条与所述数据扫描线交叉;所述竖向遮 光条与所述横向遮光条相连,并且所述竖向遮光条的一端连接到与其相邻的栅 极扫描线。

2.根据权利要求1所述的像素结构,其特征在于,所述遮光部与所述栅极 扫描线位于同一层。

3.根据权利要求1或2所述的像素结构,其特征在于,所述像素结构为栅 极扫描线作为存储电容极板的结构。

4.根据权利要求3所述的像素结构,其特征在于,所述竖向遮光条与像素 电极部分重叠。

5.一种像素结构的维修方法,其特征在于,包括:

(1)在封闭式的遮光部内对应位置处的数据扫描线断路后,在该数据扫描 线和遮光部的重叠位置处打孔,所述遮光部包括两条与数据扫描线平行的竖向 遮光条、以及两条与栅极扫描线平行的横向遮光条;所述两条竖向遮光条位于 所述数据扫描线的两侧,所述两条横向遮光条与所述数据扫描线交叉;所述竖 向遮光条与所述横向遮光条相连,并且所述竖向遮光条的一端连接到与其相邻 的栅极扫描线;

(2)向所打出的孔内充入金属;

(3)切断所述遮光部与栅极扫描线连接。

6.根据权利要求5所述的像素结构的维修方法,其特征在于,

所述(1)具体为:在遮光部的两个横向遮光条之间对应位置处的数据扫描 线断路后,在该数据扫描线和遮光部的两个横向遮光条的重叠位置处打孔;

所述(3)具体为:切断所述遮光部的两个竖向遮光条和栅极扫描线连接。

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