[发明专利]像素结构及其维修方法有效
申请号: | 200910078162.6 | 申请日: | 2009-02-19 |
公开(公告)号: | CN101813858A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | 陈宇鹏 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/13 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 结构 及其 维修 方法 | ||
1.一种像素结构,包括栅极扫描线、数据扫描线,所述栅极扫描线与数据 扫描线交叉形成像素单元,所述像素单元中设有像素电极,两个相邻像素电极 之间的数据扫描线处对应设有遮光部,其特征在于:所述遮光部为封闭式结构 并与所述栅极扫描线连接,所述遮光部包括两条与数据扫描线平行的竖向遮光 条、以及两条与栅极扫描线平行的横向遮光条;所述两条竖向遮光条位于所述 数据扫描线的两侧,所述两条横向遮光条与所述数据扫描线交叉;所述竖向遮 光条与所述横向遮光条相连,并且所述竖向遮光条的一端连接到与其相邻的栅 极扫描线。
2.根据权利要求1所述的像素结构,其特征在于,所述遮光部与所述栅极 扫描线位于同一层。
3.根据权利要求1或2所述的像素结构,其特征在于,所述像素结构为栅 极扫描线作为存储电容极板的结构。
4.根据权利要求3所述的像素结构,其特征在于,所述竖向遮光条与像素 电极部分重叠。
5.一种像素结构的维修方法,其特征在于,包括:
(1)在封闭式的遮光部内对应位置处的数据扫描线断路后,在该数据扫描 线和遮光部的重叠位置处打孔,所述遮光部包括两条与数据扫描线平行的竖向 遮光条、以及两条与栅极扫描线平行的横向遮光条;所述两条竖向遮光条位于 所述数据扫描线的两侧,所述两条横向遮光条与所述数据扫描线交叉;所述竖 向遮光条与所述横向遮光条相连,并且所述竖向遮光条的一端连接到与其相邻 的栅极扫描线;
(2)向所打出的孔内充入金属;
(3)切断所述遮光部与栅极扫描线连接。
6.根据权利要求5所述的像素结构的维修方法,其特征在于,
所述(1)具体为:在遮光部的两个横向遮光条之间对应位置处的数据扫描 线断路后,在该数据扫描线和遮光部的两个横向遮光条的重叠位置处打孔;
所述(3)具体为:切断所述遮光部的两个竖向遮光条和栅极扫描线连接。
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