[发明专利]像素结构及其维修方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及液晶显示器的像素结构、以及该 像素结构线不良的维修方法。

背景技术

如图1和图2所示，TFT阵列基板包括设置在下基板上彼此交叉的栅极扫描 线1和数据扫描线2，在栅极扫描线1和数据扫描线2交叉形成的每个区域内设 置有TFT7、像素电极9和公共电极线16。TFT7的具体结构见图2示出的TFT剖 面图，该TFT7包括与栅极扫描线1相连的栅极3、与数据扫描线2相连的源极 4、与像素电极9相连的漏极5，其中漏极5通过接触孔8与像素电极9相连； 该TFT7还包括与栅极扫描线1重叠并限定源极4和漏极5之间沟道6的半导体 层13。在半导体层13上还形成有用于与数据扫描线2形成电接触的掺杂半导体 层14，半导体层13和掺杂半导体层14共同形成半导体。在栅极扫描线1上施 加电压，使得TFT7的栅极3具有电压而使得TFT源极4和漏极5导通，这样施 加在数据扫描线2上的像素电压就可以充入像素电极8并保持，使得像素电极9 与液晶另外一面的公共电极之间形成电场从而控制液晶的透光率以显示图像。

如图2所示，栅极扫描线1、TFT7的栅极3和公共电极线16上形成有栅绝 缘薄膜11。在制备出源极和漏极后形成钝化层12，其中的接触孔8就是穿过该 钝化层12接触到漏极5的。

由于在制备出TFT阵列基板上可能会出现一些线不良的情况，在出现线不 良的情况后进行线不良的维修过程中，发明人发现至少存在如下问题：

第一、如图3所示，对数据扫描线2中出现断路情况的维修，首先在数据 扫描线2断开的两个端点处17和18上打孔，打孔的深度至少需要穿透到数据 扫描线2所在的层上；然后向打出的孔19和20内充入金属将断开的两个端点 17和18引出(称为welding操作)，并按照设定的路径在表层沉积金属线21(称 为wiring操作)，通过该金属线21将两个端点17和18连接起来；为了防止表 面的像素电极9与沉积的金属线21发生短路，最后，在沉积有金属线21的外 围沿着切割线22用激光将像素电极9切掉一部分(称为cutting操作)。

第二、如图4所示，当数据扫描线2与栅极扫描线1在交叉点23发生短路 时，进行维修时，首先在交叉点23两侧的栅极扫描线1上打孔，打孔的深度至 少需要穿透到栅极扫描线1所在的层上；然后向打出的孔24和25内充入金属 将栅极扫描线1引出(称为welding操作)，并按照设定的路径在表层沉积金属 线28(称为wiring操作)，通过该金属线28将栅极扫描线1连接起来；再沿着 切割线26和27进行切割(cutting)，其中切割线27处只需要切割掉像素电极 9，而切割线26处需要切割到栅极扫描线1所在的层，使得栅极扫描线1在切 割线26处断开。

在上述维修过程中，如果沉积的金属线跨越了公共电极线16，公共电极线 16上部的像素电极9不能用大能量的激光进行切割，否则将毁坏公共电极线16， 所以，这里最后切割像素电极9时需要改用较小能量的激光，造成整个维修过 程比较复杂。

由于上述两种情况同时包括了welding操作、cutting操作以及wiring操 作，对于需要跨过公共电极线的cutting操作还需要改用较小能量的激光(称 为decap操作)；由于welding操作和cutting操作同一种维修设备上进行，而wiring操作和decap操作需要在另一种维修设备上进 行，所以维修过程较复杂，并且需要更换维修设备。

发明内容

本发明的实施例提供一种像素结构及其维修方法，使得像素结构的维修过 程较简单，且不用更换维修设备。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种像素结构，包括栅极扫描线、数据扫描线，所述栅极扫描线与数据扫 描线交叉形成像素单元，所述像素单元中设有像素电极，两个相邻像素电极之 间的数据扫描线处对应设有遮光部，所述遮光部为封闭式结构并与所述栅极扫 描线连接。

一种像素结构的维修方法，包括：

(1)在封闭式的遮光部内对应位置处的数据扫描线断路后，在该数据扫描 线和遮光部的重叠位置处打孔；

(2)向所打出的孔内充入金属；

(3)切断所述遮光部与栅极扫描线连接。

一种像素结构的维修方法，包括：