[发明专利]基板测试电路及基板

权利要求书

1.一种基板测试电路，其特征在于，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线和第一公共电极线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，所述第一数据线测试输入端、第一栅线测试输入端和第一公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等；所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等；所述第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等。

2.根据权利要求1所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线、第二栅线测试线和第二公共电极线测试线，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第二公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端，所述第三数据线测试输入端、第三栅线测试输入端以及第三公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等；所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等；所述第三公共电极线测试输入端和第四公共电极线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等。

3.根据权利要求2所述的基板测试电路，其特征在于，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等，所述第一公共电极线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三公共电极线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等。

4.一种基板测试电路，其特征在于，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等。

5.根据权利要求4所述的基板测试电路，其特征在于，还包括：

与所述第一面板连接的第一栅线测试线以及与所述第二面板连接的第二栅线测试线，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第二栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端，所述第一栅线测试输入端和第三栅线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等，所述第三栅线测试输入端和第四栅线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等，所述第一栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三栅线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等。