[发明专利]基板测试电路及基板

说明书

技术领域

本发明涉及一种基板测试电路及基板，属于薄膜晶体管液晶显示器制造技术中的测试技术领域。

背景技术

随着薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以下简称：TFT-LCD)制造技术的不断完善以及成本的不断降低，TFT-LCD已经被广泛应用。

现有的TFT-LCD制造方法为：在一张较大的基板上形成若干独立的TFT像素阵列区，每个TFT像素阵列区对应一块面板；为了对沉积在基板上的TFT像素阵列区进行信号检测，用于输入测试信号的测试电路也需要随TFT像素阵列一同沉积在基板上，且该测试电路的沉积位置在基板每个面板的周围，然后即可通过该测试电路的测试输入端输入测试信号来检测各个面板的电性不良发生情况。测试完毕后，在沉积了TFT像素阵列的基板上涂布液晶，然后再覆盖彩色基板，拼合成LCD面板，最后再将该LCD面板切割，同时切除每个面板周围的测试电路，从而形成独立的面板。

图1为现有技术中基板测试电路的结构示意图，如图1所示，在形成TFT像素阵列区以及外围的测试电路的过程中，曝光工艺以两个面板为单元进行曝光，称为一个曝光单元，图1中在基板上共排布有12个面板，即1号面板～12号面板，所以曝光过程共需要6个曝光单元，每个曝光单元如图中虚线内部区域所示。由于各曝光单元使用的模版相同，所以最终形成的图样结构也相同，相应的测试电路也以曝光单元为单位进行设计。每个面板的测试信号线分为数据线测试线，栅线测试线和公共电极测试线，每种测试信号有两个测试输入端，分别位于基板的外侧边缘和中心区域。

图2为图1中电性不良检测的结构示意图，如图2所示，在图1所示的中心区域加载测试信号时，必须在用于设置探针52的设备探针框架5上添加带有探针52的横梁51，探针52与测试输入端接触，通过该探针即可向面板上加载测试信号。

由于用于探测电性不良的传感器与面板之间的距离只有15um左右，在进行测试时，传感器经过横梁51时必须升起一次来绕过横梁51，这将增加测试时间，影响测试效率。因此，现有技术在进行电性不良测试时，不使用中心区域的测试输入端，而只能使用基板外侧边缘的测试输入端。

由于现有技术只能使用基板外侧边缘的测试输入端，而基板外侧边缘的测试输入端与各个面板对应的测试信号线的输入电阻不同，引起测试信号传输过程中电压衰减的不同，导致实际加载于各面板的测试信号的差异，最终导致测试电路对各个面板的电性不良的检出能力存在较大差异。

发明内容

本发明提供一种基板测试电路及基板，用以解决现有技术中测试电路对各个面板的电性不良的检出能力存在较大差异的问题，实现基板测试电路对基板上的面板的电性不良的检出能力相同的效果。

本发明提供一种基板测试电路，包括：与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线、第一栅线测试线和第一公共电极线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第一栅线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端，所述第一公共电极线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端，所述第一数据线测试输入端、第一栅线测试输入端和第一公共电极线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等；所述第一栅线测试输入端和第二栅线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等；所述第一公共电极线测试输入端和第二公共电极线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等。

为实现上述目的，本发明还提供一种基板测试电路，包括：

与单个曝光单元内的第一面板连接的第一数据线测试线以及与所述曝光单元内的第二面板连接的第二数据线测试线，所述第一数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端，所述第二数据线测试线包括设置在所述曝光单元两侧的第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端，所述第一数据线测试输入端和第三数据线测试输入端设置在所述曝光单元的同侧，所述第一数据线测试输入端和第二数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度相等，所述第三数据线测试输入端和第四数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等，所述第一数据线测试输入端到所述第一面板的引线长度与所述第三数据线测试输入端到所述第二面板的引线长度相等。

为实现上述目的，本发明还提供另一种基板测试电路，包括：