[发明专利]水波纹级别测试方法有效
| 申请号： | 200910080559.9 | 申请日： | 2009-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101840078A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 张培林 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 水波 级别 测试 方法 | ||
1.一种水波纹级别测试方法，其特征在于，包括：
采集测试面板的图像，所述测试面板即为待测试的液晶显示面板；
计算所述测试面板的图像中像素的亮度值或灰度值；
根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域；
根据所述测试面板中存在水波纹区域的面积或像素个数，测试出所述测试面板的水波纹级别。
2.根据权利要求1所述的水波纹级别测试方法，其特征在于，所述根据测试面板的像素的亮度值或灰度值，查找出测试面板中存在水波纹的区域包括：当测试面板的像素的亮度值大于正常像素的亮度值，或测试面板的像素的灰度值大于正常像素的灰度值时，确定所述测试面板的像素属于所述存在水波纹的区域。
3.根据权利要求1所述的水波纹级别测试方法，其特征在于，所述根据测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数，测试出所述测试面板的水波纹级别包括：
计算所述测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数；
根据所述测试面板中存在水波纹的区域的面积或像素个数以及面积或像素个数与水波纹级别的对应关系，测试出所述测试面板的水波纹级别。
4.根据权利要求1所述的水波纹级别测试方法，其特征在于，在采集测试面板的图像之前还包括：获取所述面积或像素个数与水波纹级别的对应关系。
5.根据权利要求4所述的水波纹级别测试方法，其特征在于，所述获取面积或像素个数与水波纹级别的对应关系包括：
采集样本面板的图像；
计算样本面板的图像中像素的亮度值或灰度值；
根据所述样本面板的像素的亮度值或灰度值，查找出样本面板中存在水波纹的样本面板区域；
计算所述存在水波纹的样本面板区域的面积或像素个数，建立所述面积或像素个数与水波纹级别的对应关系。
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