[发明专利]水波纹级别测试方法有效
申请号: | 200910080559.9 | 申请日: | 2009-03-20 |
公开(公告)号: | CN101840078A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 张培林 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01M11/02 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 水波 级别 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及水波纹定量评价技术,尤其涉及一种水波纹级别测试方法,属于液晶显示器制造领域。
背景技术
液晶显示器主要由阵列基板、彩膜基板、偏光片、背光源和液晶等几部分组成,在其制造工艺中,阵列基板和彩膜基板的成盒工艺是必要的一步。在成盒过程中,首先在基板上涂敷取向膜材料;通过相应的取向工艺,使基板上液晶分子按一定的方式进行排列;然后,经真空对盒过程将两基板定型,并通过隔垫物控制盒厚。液晶显示器的显示原理为利用电场对液晶分子进行取向控制,根据液晶分子的折射率各向异性,使得透过率发生变化,从而可以显示图像。
液晶显示器中隔垫物是通过喷洒方式或光刻工艺形成在彩膜基板和阵列基板之间的,其作用是控制液晶显示面板的盒厚,但是,当液晶显示面板的表面受外力作用时,液晶显示面板会发生形变,当外力足够大时,彩膜基板和阵列基板在外力作用下会发生相对位移。由于阵列基板上沉积各层的厚度不同,这种位移使得隔垫物与阵列基板的接触情况发生变化。当外力撤销时,由于接触情况的变化,使得发生形变的隔垫物的相对位移难以恢复,因此,在位移较大的位置,黑矩阵(Black Matrix,以下简称:BM)不能遮挡住光线,面板在外力作用下产生亮度不均,这种现象称为水波纹(Touch Mura)现象;位移越大,漏光的亮度越高,漏光的面积也越大,水波纹的级别就越高。
现有技术中,对于水波纹级别的判定主要通过人眼目测的方法进行。首先,通过人眼目测,挑选出具有不同程度水波纹现象的样本面板,人为判定这些样本面板的级别;其次,以样本面板为基准,人为判定测试面板的级别。这种方法具有如下缺点:存在水波纹的区域可能不是连续的区域,这样会影响人眼的判定;不同人的感官有所差别,因而不同人的判定结果也会有差别;人眼目测的方法受到环境因素的影响较大,例如外界光线的产生较大影响。上述缺点都将导致最终测试结果存在较大的误差,难以保证测试结果的正确性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种水波纹级别测试方法,保证测试结果的准确性。
本发明提供了一种水波纹级别测试方法,包括:
采集测试面板的图像,所述测试面板即为待测试的液晶显示面板;
计算所述测试面板的图像中像素的亮度值或灰度值;
根据测试面板的像素的亮度值或灰度值,查找出测试面板中存在水波纹的区域;
根据所述测试面板中存在水波纹区域的面积或像素个数,测试出所述测试面板的水波纹级别。
本发明通过采集测试面板的图像,并对图像进行分析,查找出测试面板中存在水波纹的区域,根据该测试面板中存在水波纹的区域的参数,测试出水波纹级别;该方法消除了由人工定性所带来的测试结果误差,采取定量分析的方法,准确地得到测试结果,从而保证测试结果的准确性。
附图说明
图1为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例一的流程图;
图2为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二的流程图;
图3为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例二中像素个数与水波纹级别对应关系的示意图。
具体实施方式
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
图1为本发明提供的一种水波纹级别测试方法实施例一的流程图,本实施例具体包括如下步骤:
步骤101、采集测试面板的图像;该测试面板即为待测试的液晶显示面板;
步骤102、计算测试面板图像中像素的亮度值;
步骤103、根据测试面板的像素的亮度值,查找出测试面板中存在水波纹的区域;进一步的,当测试面板的像素的亮度值大于正常像素的亮度值时,确定该测试面板的像素属于存在水波纹的区域;
步骤104、计算查找出的测试面板中存在水波纹的区域的面积;
步骤105、根据测试面板中存在水波纹的区域的面积以及面积与水波纹级别的对应关系,测试出该测试面板的水波纹级别。
进一步的,在上述步骤101之前还可以包括:获取面积与水波纹级别的对应关系。
再进一步,获取面积与水波纹级别的对应关系可以包括:
步骤1001、采集样本面板的图像;
假设已知样本面板的水波纹级别,采用已固定的CCD镜头对样本面板进行图像采集。
步骤1002、计算样本面板的图像中像素的亮度值;
由于本实施例中对测试面板进行测试时,计算测试面板的亮度值,因此,在本步骤中,也计算样本面板的亮度值。具体可以采用亮度计进行定点测量,得到各个测试点内像素相对准确的亮度值。
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