[发明专利]一种提高扫描链测试覆盖率的方法和装置有效
| 申请号： | 200910080959.X | 申请日： | 2009-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101515479A | 公开（公告）日： | 2009-08-26 |
| 发明（设计）人： | 张浩 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 扫描 测试 覆盖率 方法 装置 | ||
1.一种提高扫描链测试覆盖率的方法，所述扫描链由多个寄存器串接而 成，其特征在于，包括：
连接扫描模式下被置为零的存储器内建自测试控制信号的输入端到扫描 链中的某一寄存器上；
输入测试向量生成工具产生的扫描测试向量给包括所述某一寄存器的扫 描链，并且将组合逻辑的输出以及所述存储器内建自测试控制信号单元的输出 输入到同一与门以测试所述组合逻辑，其中，所述与门输出所述组合逻辑的扫 描测试结果至D触发器；
通过所述D触发器比较所述组合逻辑的扫描测试结果和逻辑期望值以判 断所述组合逻辑是否正常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述存储器内建自测试控 制信号为内建自测试选择信号、内建自测试执行信号或内建自测试结果使能信 号。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述某一寄存器为扫描链 中的任意一个寄存器。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试向量生成工具为 自动测试向量生成工具。
5.一种提高扫描链测试覆盖率的装置，所述扫描链由多个寄存器串接而 成，各寄存器具有接收测试向量生成工具产生的扫描测试向量的端口，其特征 在于，包括：
与所述扫描链中的某一寄存器连接的存储器内建自测试控制信号单元；
其输出端与所述存储器内建自测试控制信号单元的输出端作为同一与门 输入端的组合逻辑；
用于输出所述组合逻辑扫描测试结果的所述与门。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述存储器内建自测试控 制信号单元包括：内建自测试选择信号单元、内建自测试执行信号单元或内建 自测试结果使能信号单元。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述某一寄存器为所述扫 描链中的任意一个寄存器。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述测试向量生成工具为 自动测试向量生成工具。
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