[发明专利]一种射频测试装置及方法

权利要求书

1.一种射频测试装置，其特征在于该装置包括：

复数个开关阵列：用于根据射频测试指令，导通测试单元；

所述测试单元：用于对待测设备进行测试。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括信号处理单元，用于根据所述开关阵列的导通，对干扰信号进行符合所述测试指令的处理。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述信号处理单元包括：高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述开关阵列还导通外接的信号处理单元。

5.根据权利要求3或4所述的装置，其特征在于，所述测试单元包括上下行链路，信号源单元，干扰信号单元，信号分析单元，其中，

所述信号源单元用于生成测试信号，并分析返回的上行信号；

所述干扰信号单元用于发出干扰信号；

所述信号分析单元用于对所述待测设备返回的上行信号进行分析；

所述上下行链路用于根据所述开关阵列的导通关系，将所述测试信号或者混有干扰信号的测试信号传送给所述待测设备，并将所述待测设备的信号返回给所述信号分析单元或信号源单元。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号构成下行信号，所述上下行链路将所述下行信号传送给所述待测设备，所述信号分析单元对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为低频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通低频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行低频带外阻塞测试。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为高频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通高频滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行高频带外阻塞测试。

9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为邻频带外阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通带限滤波单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行邻频带外阻塞测试。

10.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括宽频功分器，当所述射频测试的指令为特定要求的阻塞测试时，信号源单元输出测试信号，所述开关阵列导通符合所述特定要求的外接信号处理单元对干扰信号进行处理，在所述宽频功分器将所述测试信号和处理后的干扰信号构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号，所述信号源单元对所述待测设备返回的上行信号进行特定要求的阻塞测试。

11.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，当所述射频测试的指令为带外杂散和发射机互调时，所述开关阵列导通干扰信号单元，所述干扰信号和信号源单元输出的测试信号合并构成下行信号，所述待测设备接收所述下行信号并返回上行信号，所述开关阵列导通信号处理单元对所述上行信号进行处理，所述信号分析单元对所述经过处理的上行信号进行带外杂散和发射机互调测试。

12.一种射频测试方法，其特征在于所述方法包括：

根据射频测试的指令，利用开关阵列导通测试单元；

通过所述测试单元对待测设备进行测试。

13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，当所述射频测试的指令为带内测试时，所述开关阵列导通干扰信号，所述干扰信号和信号源输出的测试信号构成下行信号，将所述下行信号传送给所述待测设备，对所述待测设备返回的上行信号进行带内测试。