[发明专利]一种射频测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 200910081411.7 申请日: 2009-04-03
公开(公告)号: CN101854644A 公开(公告)日: 2010-10-06
发明(设计)人: 李莉莉;张玉凤;秦岩 申请(专利权)人: 工业和信息化部电信传输研究所
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04B17/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 100045 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 测试 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信测试领域,具体的讲是一种射频测试装置及方法。

背景技术

随着蜂窝移动通信系统基站和终端的产品越来越多,尤其是终端数量和种类更是繁多,手动测试由于其效率低,且存在着不确定因素,而大型的测试系统又价格昂贵,因此如何低成本的解决基站和终端的自动化测试,是目前急需解决的问题。在测试过程中,带外杂散测试由于频带宽,需要覆盖9kHz到12.75GHz,所以对测试系统的频响要求很高;特殊频段杂散的测试则对测试系统的插入损耗有较高要求;阻塞测试的带宽也覆盖了1MHz到12.75GHz,对测试系统的频响要求很高,另外,还要考虑信号源的本振泄露、二次谐波和三次谐波对误比特率测试的干扰问题。而现有技术中都是利用单独的设备对上述测试项目进行测试,每次测试都要连接不同的测试设备,造成了成本高,不易操作的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种射频测试装置及方法,用于解决现有技术中需要为每次测试布置特殊的测试环境和仪器,操作复杂、成本高的问题。

为了实现上述目的,本发明实施例提供了一种射频测试装置,该装置包括:复数个开关阵列:用于根据射频测试指令,导通测试单元;所述测试单元:用于对待测设备进行测试。

为了实现上述目的,本发明实施例还提供了一种射频测试方法,所述方法包括:根据射频测试的指令,利用开关阵列导通测试单元;通过所述测试单元对待测设备进行测试。

本发明实施例的有益效果在于,通过开关阵列可以灵活的配置测试项目,实现了多个功能模块的复用,节约了成本,并且降低了每次测试时需要重新布线等操作的难度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1所示为本发明射频测试装置的第一实施例结构图;

图2所示为本发明射频测试装置的第二实施例的结构示意图;

图3所述为本发明射频测试装置进行带内测试时的信号流图;

图4所示为本发明射频测试装置进行低频带外阻塞测试时的信号流图;

图5所示为本发明射频测试装置进行高频带外阻塞测试时的信号流图;

图6所示为本发明射频测试装置进行邻频带外阻塞测试时的信号流图;

图7所示为本发明射频测试装置进行特殊要求的带外阻塞测试时的信号流图;

图8所示为本发明射频测试装置进行带外杂散和发射机互调测试时的信号流图;

图9所示为本发明射频测试方法实施例的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种射频测试装置及方法。以下结合附图对本发明进行详细说明。

如图1所示为本发明射频测试装置的第一实施例结构图。

复数个开关阵列101,用于根据射频测试指令,导通测试单元。

测试单元102,用于对待测设备进行测试。

作为本发明的一个实施例,还包括信号处理单元,用于根据所述开关阵列的导通,对干扰信号进行符合所述测试指令的滤波处理。

作为本发明的一个实施例,所述信号处理单元包括:高频滤波单元、低通滤波单元、可调衰减器、带限滤波单元。

作为本发明的一个实施例,所述开关阵列还可以导通外接的信号处理单元。

作为本发明的一个实施例,所述测试单元包括上下行链路,信号源单元,干扰信号单元,信号分析单元,其中,

所述信号源单元传送出测试信号;

所述干扰信号单元用于发出干扰信号;

所述上下行链路用于根据所述开关阵列的导通关系,将所述测试信号或者混有干扰信号的测试信号传送给所述待测设备,并将所述待测设备的信号返回给所述信号分析单元,所述信号分析单元对所述待测设备的信号进行分析。

作为本发明的一个实施例,所述信号处理单元通过所述开关阵列分别与所述信号分析单元和干扰信号单元相连接,并且通过所述开关阵列与待测设备相连接。

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