[发明专利]集成电路的仿真测试方法有效
| 申请号： | 200910109891.3 | 申请日： | 2009-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN101719170A | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 黎嘉勇;田浦延;李达 | 申请（专利权）人： | 深圳国微技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人： | 胡朝阳;孙洁敏 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 仿真 测试 方法 | ||
1.一种集成电路仿真测试方法，其特征在于，包括步骤：
读入集成电路的网表，根据寄存器、锁存器、RAM、ROM各自的数据生成对应的列 表文件，由列表文件按verilog硬件描述语言生成保存现场数据任务和恢复现场数据任务；
在不同仿真时间点时调用保存现场数据任务，对所指定的不同仿真时间点的仿真现场 数据进行保存；
产生多个相互独立的仿真线程，每个仿真线程均启动仿真软件，调用恢复现场数据任 务将每个仿真软件所对应的仿真集成电路初始化为在不同仿真时间点时保存的仿真现场 数据，并启动各个仿真线程进行仿真验证；所述保存仿真现场数据的步骤包括：
先停止集成电路中所有的时钟信号，并保存各时钟信号的状态；
然后分别保存各个寄存器、锁存器、RAM和ROM的当前数据；
所述调用恢复现场数据任务将集成电路初始化的步骤包括：
停止集成电路中所有的时钟信号；
以保存的仿真现场数据恢复各个寄存器、锁存器、RAM和ROM的状态值；
恢复集成电路中所有时钟信号。
2.根据权利要求1所述集成电路仿真测试方法，其特征在于，寄存器、锁存器、RAM 和ROM的仿真现场数据分别保存在不同的文件中。
3.根据权利要求1所述集成电路仿真测试方法，其特征在于，寄存器、锁存器、RAM 和ROM的仿真现场数据均保存在一个文件中。
4.根据权利要求1所述集成电路仿真测试方法，其特征在于，寄存器、锁存器、RAM 和ROM的仿真现场数据以二进制格式保存在文件中。
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