[发明专利]一种平面密封性能测试装置有效
申请号: | 200910110247.8 | 申请日: | 2009-10-27 |
公开(公告)号: | CN101769815A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 周明杰;曾元丰 | 申请(专利权)人: | 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司 |
主分类号: | G01M3/00 | 分类号: | G01M3/00;G01B5/14;G01N3/08;G01N3/40 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 郭伟刚 |
地址: | 518052广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平面 密封 性能 测试 装置 | ||
1.一种平面密封性能测试装置,其特征在于,所述测试装置包括一端开 口的底座(2)和封闭该底座(2)开口端的上盖(1),所述底座(2)为筒形 件,所述底座(2)中部形成浅槽(6),所述上盖(1)为透明件;所述底座(2) 开口端与上盖(1)的接触面上设置的用于纳置环形密封件(3)的环形密封槽 (5);所述上盖(1)外沿和所述密封槽(5)外侧分别设有多个一一对应的用 于安装螺栓(4)的通孔(9),所述底座(2)与上盖(1)之间一一对应的通 孔(9)处装有螺栓(4),所述螺栓(4)上套设有多个刚性垫片(8),所述 多个刚性垫片(8)位于底座(2)和上盖(1)之间。
2.据权利要求1所述平面密封性能测试装置,其特征在于,所述环形密 封槽(5)设置在底座(2)开口端端面上。
3.根据权利要求1所述平面密封性能测试装置,其特征在于,所述环形 密封件(3)为弹性元件,所述环形密封件(3)高度大于密封槽(5)的深度, 所述环形密封件(3)宽度略小于所述密封槽(5)的宽度。
4.一种平面密封性能测试装置,用于测试环形密封件(3)的轴向平面密 封性能,其特征在于,所述测试装置包括一端开口的底座(2)和封闭该底座 (2)开口端的上盖(1),所述底座(2)为筒形件,所述底座(2)中部形成 浅槽(6),所述上盖(1)为透明件;所述底座(2)开口端设有水平向外延伸 的延伸部(7)且所述底座(2)开口端端面内侧设有用于纳置环形密封件(3) 且环绕底座(2)开口端的密封槽(5);所述上盖(1)外沿和所述延伸部(7) 分别设有多个一一对应的用于安装螺栓(4)的通孔(9);所述底座(2)与 上盖(1)之间一一对应的通孔(9)处装有螺栓(4),所述螺栓(4)上套设 有多个刚性垫片(8),所述多个刚性垫片(8)位于底座(2)和上盖(1)之 间。
5.根据权利要求4所述的平面密封性能测试装置,其特征在于,所述延 伸部(7)为多个分别带有通孔(9)的突出外缘。
6.根据权利要求4所述的平面密封性能测试装置,其特征在于,所述延 伸部(7)为环形外沿,所述通孔(9)设置在环形外沿上。
7.根据权利要求5或6所述平面密封性能测试装置,其特征在于,所述 环形密封件(3)为弹性元件,所述环形密封件(3)的高度大于密封槽(5) 的深度,所述环形密封件(3)的宽度小于所述密封槽(5)的宽度。
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