[发明专利]一种平面密封性能测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及密封性能测试技术，尤其涉及一种平面密封性能测试装置。

背景技术

环形密封圈的轴向平面密封又叫端面密封，与径向密封相对应。影响平面 密封的因素是多方面的。主要有：环形密封件性能、螺栓布置等。环形密封件 是构成平面密封的重要元件，适当的压缩率和回弹能力是形成密封的必要条 件。而螺栓布置的合理性是影响密封的另一个重要因素，要达到良好的密封， 必须使预紧力均匀地作用于环形密封件。因此，当材料刚度一定时，增加螺栓 个数，对密封是有利的。但是螺栓使用过多不仅造成浪费，也容易影响到部件 力学性能。实际生产中针对具体情况的平面密封需要使用多少螺栓、使用什么 型号的环形密封件没有简单易行的理论依据，往往要靠设计人员根据长期设计 的经验来估计。

长期以来，人们主要靠经验和计算并用的方式进行平面密封设计。而鲜有 通过试验获取最佳设计数据的途径。经验依赖于设计人员的长期积累，而计算 是一个繁琐的过程，并且容易出错，出错后也难发现。通过检索相关文献，现 有密封测试装置中没有专用于平面密封测试的，且现有的密封测试装置大多结 构复杂，成本高企。

发明内容

本发明所要解决的的技术问题在于，针对上述平面密封的设计过程没有简 单可行手段的不足，提供一种结构简单、操作方便，且可以有效测试平面密封 性能测试装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是，提供一种平面密封性能测试 装置，所述测试装置包括一端开口的底座和封闭该底座开口端的上盖；还包括 所述底座开口端与上盖的接触面上设置的用于纳置环形密封件的环形密封槽； 所述上盖外沿和所述密封槽外侧分别设有多个一一对应的用于安装螺栓的通 孔。

在本发明所述平面密封性能测试装置中，所述环形密封件为弹性元件，所 述环形密封件的高度大于密封槽的深度，所述环形密封件的宽度小于所述密封 槽的宽度。

在本发明所述平面密封性能测试装置中，所述底座与上盖之间一一对应的 通孔处装有螺栓，所述螺栓上套设有刚性垫片，所述刚性垫片位于底座和上盖 之间。

本发明为解决其技术问题所采用的技术方案，还提供了另一种平面密封性 能测试装置，用于测试环形密封件的轴向平面密封性能，所述测试装置包括一 端开口的底座和封闭该底座开口端的上盖；所述底座开口端设有水平向外延伸 的延伸部且所述底座开口端端面内侧设有用于纳置环形密封件且环绕底座开 口端的密封槽；所述上盖外沿和所述延伸部分别设有多个一一对应的用于安装 螺栓的通孔。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述环形密封槽设置在底座开口 端端面上。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述延伸部为多个分别带有通孔 的突出外缘。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述延伸部为环形外沿，所述通 孔设置在环形外沿上。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述环形密封件为弹性元件，所 述环形密封件的高度大于密封槽的深度，所述环形密封件的宽度小于所述密封 槽的宽度。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述底座与上盖之间一一对应的 通孔处装有螺栓，所述螺栓上套设有刚性垫片，所述刚性垫片位于底座和上盖 之间。

在本发明上述平面密封性能测试装置中，所述上盖为透明件。

实施本发明提供的平面密封测试装置，结构简单、操作方便，且可有效测 试环形密封件的密封性能，并可得到一系列具有长期指导价值的密封数据，有 效提高密封设计的准确性，减少泄露，提高客户满意度，降低企业对专业密封 设计人员的依赖。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1为本发明平面密封性能测试装置实施例一的平面图；

图2为图1中沿A-A线的剖面视图；

图3为图2的局部放大示意图；

图4为本发明平面密封性能测试装置实施例三的剖视图；

图5为本发明的平面密封性能测试装置最佳螺栓间距测试实施例的示意 图。

具体实施方式

实施例1