[发明专利]出生缺陷靶向寡核苷酸微阵列比较基因组杂交芯片的制备方法无效
申请号: | 200910111231.9 | 申请日: | 2009-03-13 |
公开(公告)号: | CN101514372A | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 戴勇;张艳亮;任景慧;李启运 | 申请(专利权)人: | 戴勇 |
主分类号: | C12Q1/68 | 分类号: | C12Q1/68;C40B50/06 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 | 代理人: | 张 明 |
地址: | 518000广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 出生 缺陷 靶向 寡核苷酸 阵列 比较 基因组 杂交 芯片 制备 方法 | ||
1、一种出生缺陷靶向寡核苷酸微阵列比较基因组杂交芯片的制备方法,包括以下步骤:
1)出生缺陷基因组拷贝数变化靶点筛查与鉴定
a.收集确诊为发育迟缓、智力低下或多发先天下畸形病例以及经超声检测为先天异常的胎儿病例;
b.采用高分辩率全基因组微阵列比较基因组杂交芯片进行检测,每例标本经染料互换共检测两次;
c.杂交结果扫描和分析;
d.对检测出的基因组拷贝数变化用FISH、定量PCR或MLPA进行验证;
e.鉴定并记录与特定畸形表型相关的基因组拷贝数变化;
2)靶点的选择:将经上述检测所得到的基因组畸变区域和国际病理性基因组拷贝数变化数据库最新检测和确定的所有微缺失和微复制综合征的基因组畸变区域共同作为本芯片的靶点;
3)探针的选择:选择靶向上述靶点的探针、质量控制探针和阴性对照探针,探针长为50至70bp,相邻靶向探针的间距为6.3至6.5Kb;
4)玻片表面经硅化处理:对玻片进行表面硅化处理,以有利于探针牢固地结合于载体表面;
5)点样:将靶向探针随机点于玻片上,每个探针重复4次,共分4个区块,每个区块都点有重复的质量控制探针和阴性对照探针。
2、根据权利要求1所述的出生缺陷靶向寡核苷酸微阵列比较基因组杂交芯片的制备方法,其特征在于:所选探针具有出生缺陷靶向性,有质量控制探针和阴性对照探针做质量控制,所有探针均自行设计和合成。
3、根据权利要求1所述的出生缺陷靶向寡核苷酸微阵列比较基因组杂交芯片的制备方法,其特征在于:所述质量控制探针是以人类的管家基因的DNA序列设计合成的探针;所述阴性对照探针是不能与人类基因组序列退火杂交的DNA序列。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于戴勇,未经戴勇许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910111231.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。