[发明专利]静电保护电路有效
申请号: | 200910118275.4 | 申请日: | 2009-03-03 |
公开(公告)号: | CN101826511A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 林柏青;陈正瑞 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60;H01L21/66;G01R31/28;H01L27/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 蒲迈文 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 保护 电路 | ||
1.一种静电保护电路,设置于集成电路中,该集成电路具有输入垫与应 用电路,该静电保护电路包括:
静电检测电路,用以检测该输入垫是否有静电发生,以输出检测信号; 以及
保护开关,耦接至该输入垫与该应用电路之间,该保护开关是依据该检 测信号以决定导通与否;
其中,当该静电发生时,该检测信号关闭该保护开关,使得该输入垫与 该应用电路形成断路,以及,当该静电未发生时,该检测信号导通该保护开 关,使得该输入垫与该应用电路形成短路,
该静电检测电路包含:
第一晶体管,具有漏极、源极及栅极,该第一晶体管的该漏极耦接至第 一工作电压,该第一晶体管的该源极耦接至第二工作电压;
二极管,一端耦接至该第一晶体管的该源极,另一端耦接至该第一晶体 管的该漏极;
反相器,具有输入端与输出端,该输出端耦接至该第一晶体管的该栅极;
第二晶体管,具有漏极、源极及栅极,该第二晶体管的该源极耦接至该 第一工作电压,该第二晶体管的该漏极耦接至该反相器的该输入端;
电容,一端耦接至该第二晶体管的该漏极,另一端耦接至该第二工作电 压;以及
电阻,一端耦接至该第二晶体管的该栅极,另一端耦接至该第二工作电 压。
2.根据权利要求1所述的静电保护电路,其中,该第一晶体管为NMOS 场效应晶体管,而第二晶体管为PMOS场效应晶体管。
3.根据权利要求1所述的静电保护电路,其中,该第二晶体管的该漏极 输出该检测信号。
4.根据权利要求1所述的静电保护电路,其中,该保护开关为MOS场效 应晶体管。
5.根据权利要求4所述的静电保护电路,其中,该MOS场效应晶体管 的栅极接收该检测信号,该MOS场效应晶体管的漏极耦接至该输入垫,该 MOS场效应晶体管的源极耦接至该应用电路。
6.根据权利要求5所述的静电保护电路,其中,该MOS场效应晶体管的 该源极耦接至该应用电路中的一晶体管的栅极。
7.根据权利要求1所述的静电保护电路,其中,该应用电路为模拟电路。
8.根据权利要求1所述的静电保护电路,其中,该应用电路为数字电路。
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