[发明专利]EL显示装置的制造方法有效
申请号: | 200910128517.8 | 申请日: | 2009-03-05 |
公开(公告)号: | CN101527284A | 公开(公告)日: | 2009-09-09 |
发明(设计)人: | 宫入秀和;小森茂树;伊佐敏行;梅崎敦司 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/15;H01L29/786;H01L21/027;G02F1/1362 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 柯广华;王丹昕 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | el 显示装置 制造 方法 | ||
1.一种EL显示装置的制造方法,包括如下步骤:
形成薄膜晶体管,其包括如下步骤:
在绝缘表面上按顺序层叠第一导电膜、第一绝缘膜、半导体 膜、杂质半导体膜及第二导电膜;
在所述第二导电膜上形成第一抗蚀剂掩模;
通过使用所述第一抗蚀剂掩模对所述第一绝缘膜、所述半导 体膜、所述杂质半导体膜及所述第二导电膜进行第一蚀刻,至少使所 述第一导电膜的表面露出;
在第一蚀刻之后,对所述第一导电膜的一部分进行第二蚀刻 来形成栅电极层,以使所述栅电极层的宽度比所述第一绝缘膜的宽度 窄;
通过缩小所述第一抗蚀剂掩模来形成第二抗蚀剂掩模;以及
在第二蚀刻之后,通过使用所述第二抗蚀剂掩模对所述第二 导电膜、所述杂质半导体膜及所述半导体膜的一部分进行第三蚀刻, 形成源电极及漏电极层、源区及漏区层和半导体层,
去除所述第二抗蚀剂掩模;
形成第二绝缘膜来覆盖所述薄膜晶体管;
在所述第二绝缘膜中形成开口来使所述源电极及漏电极层的一 部分露出;
在所述开口及所述第二绝缘膜上选择性地形成第一像素电极;
在所述第一像素电极上形成EL层;以及
在所述EL层上形成第二像素电极,
其中,通过所述第二蚀刻以与所述栅电极层相邻的方式在所述第 二绝缘膜和所述绝缘表面之间形成空洞。
2.一种EL显示装置的制造方法,包括如下步骤:
形成薄膜晶体管,其包括如下步骤:
在绝缘表面上按顺序层叠第一导电膜、第一绝缘膜、半导体 膜、杂质半导体膜及第二导电膜;
在所述第二导电膜上形成具有凹部的第一抗蚀剂掩模;
通过使用所述第一抗蚀剂掩模对所述第一绝缘膜、所述半导 体膜、所述杂质半导体膜及所述第二导电膜进行第一蚀刻,至少使所 述第一导电膜的表面露出;
在第一蚀刻之后,对所述第一导电膜的一部分进行第二蚀刻 来形成栅电极层,以使所述栅电极层的宽度比所述第一绝缘膜的宽度 窄;
通过缩小所述第一抗蚀剂掩模来形成第二抗蚀剂掩模,使与 所述第一抗蚀剂掩模的凹部重叠的所述第二导电膜露出;以及
在第二蚀刻之后,通过使用所述第二抗蚀剂掩模对所述第二 导电膜、所述杂质半导体膜及所述半导体膜的一部分进行第三蚀刻, 形成源电极及漏电极层、源区及漏区层和半导体层,
去除所述第二抗蚀剂掩模;
形成第二绝缘膜来覆盖所述薄膜晶体管;
在所述第二绝缘膜中形成开口来使所述源电极及漏电极层的一 部分露出;
在所述开口及所述第二绝缘膜上选择性地形成第一像素电极;
在所述第一像素电极上形成EL层;以及
在所述EL层上形成第二像素电极,
其中,通过所述第二蚀刻以与所述栅电极层相邻的方式在所述第 二绝缘膜和所述绝缘表面之间形成空洞。
3.根据权利要求1或2所述的EL显示装置的制造方法,其中使 用多级灰度掩模形成所述第一抗蚀剂掩模。
4.根据权利要求1或2所述的EL显示装置的制造方法,其中所 述第一蚀刻是干蚀刻,并且所述第二蚀刻是湿蚀刻。
5.根据权利要求1或2所述的EL显示装置的制造方法,其中层 叠利用CVD法或溅射法形成的绝缘膜和利用旋涂法形成的绝缘膜来 形成所述第二绝缘膜。
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